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Bayesian Constrained Local Models with Depth Data
AuthID
P-00M-C0V
4
Author(s)
Martins, P
·
Faro, J
·
Brandao, P
·
Batista, J
Tipo de Documento
Proceedings Paper
Year published
2016
Publicado
in
2016 IEEE INTERNATIONAL CONFERENCE ON IMAGE PROCESSING (ICIP)
in
IEEE International Conference on Image Processing ICIP,
ISSN: 1522-4880
Volume: 2016-August, Páginas: 1654-1658 (5)
Conference
23Rd Ieee International Conference on Image Processing (Icip),
Date:
SEP 25-28, 2016,
Location:
Phoenix, AZ,
Patrocinadores:
Inst Elect & Elect Engineers, Inst Elect & Elect Engineers, Signal Proc Soc
Indexing
Wos
®
Scopus
®
Crossref
®
Google Scholar
®
Metadata
Fontes
Publication Identifiers
DOI
:
10.1109/icip.2016.7532639
SCOPUS
: 2-s2.0-85006701147
Wos
: WOS:000390782001148
Source Identifiers
ISSN
: 1522-4880
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