Toggle navigation
Publicações
Investigadores
Instituições
0
Entrar
Autenticação Federada
(Clique na imagem)
Autenticação local
Recuperar Palavra-passe
Registar
Entrar
Publicações
Pesquisar
Estatísticas
An Equivalent Doping Profile for Cmos Substrate Characterization
AuthID
P-002-1TG
3
Author(s)
Quaresma, HJ
·
Mendonca dos Santos, PM
·
Cruz Serra, AC
Tipo de Documento
Article
Year published
2013
Publicado
in
SOLID-STATE ELECTRONICS,
ISSN: 0038-1101
Volume: 79, Páginas: 185-191 (7)
Indexing
Wos
®
Scopus
®
Crossref
®
Google Scholar
®
Metadata
Fontes
Publication Identifiers
DOI
:
10.1016/j.sse.2012.06.017
SCOPUS
: 2-s2.0-84869501698
Wos
: WOS:000313611000035
Source Identifiers
ISSN
: 0038-1101
Export Publication Metadata
Exportar
×
Publication Export Settings
BibTex
EndNote
APA
Export Preview
Lista
Marked
Adicionar à lista
Marked
Info
At this moment we don't have any links to full text documens.
×
Selecione a Fonte
Esta publicação tem:
2 registos no
ISI
2 registos no
SCOPUS
2 registos no
DBLP
2 registos no
Unpaywall
2 registos no
Openlibrary
2 registos no
Handle
Por favor selecione o registo que deve ser utilizado pelo Authenticus.
×
Comparar Publicações
© 2024 CRACS & Inesc TEC - All Rights Reserved
Política de Privacidade
|
Terms of Service