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Near-Field Microwave Microscopy: Subsurface Imaging for In Situ Characterization
AuthID
P-00S-RD7
1
Author(s)
Tselev, A
Tipo de Documento
Article
Year published
2020
Publicado
in
IEEE MICROWAVE MAGAZINE,
ISSN: 1527-3342
Volume: 21, Número: 10, Páginas: 72-86 (15)
Indexing
Wos
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Metadata
Fontes
Publication Identifiers
DOI
:
10.1109/mmm.2020.3008241
SCOPUS
: 2-s2.0-85091232776
Wos
: WOS:000568655100001
Source Identifiers
ISSN
: 1527-3342
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