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Study of the Piezoresistivity of Doped Nanocrystalline Silicon Thin Films
AuthID
P-002-QEZ
8
Author(s)
Alpuim, P
·
Gaspar, J
·
Gieschke, P
·
Ehling, C
·
Kistner, J
·
Goncalves, NJ
·
Vasilevskiy, MI
·
Paul, O
Tipo de Documento
Article
Year published
2011
Publicado
in
JOURNAL OF APPLIED PHYSICS,
ISSN: 0021-8979
Volume: 109, Número: 12, Páginas: 123717 (9)
Indexing
Wos
®
Scopus
®
Crossref
®
13
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®
Metadata
Fontes
Publication Identifiers
DOI
:
10.1063/1.3599881
SCOPUS
: 2-s2.0-79960187325
Wos
: WOS:000292331200066
Source Identifiers
ISSN
: 0021-8979
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