Escola Superior de Tecnologia e Gestão de Águeda (ESTGA)
Águeda School of Technology and Management
Uma Instituição (Grupo) no Authenticus é uma organização que engloba um conjunto de Investigadores (equipa da Instituição ou do Grupo). O conjunto de Investigadores depende da estrutura organizacional da instituição em cada ano e pode ser definido no perfil da Instituição, na secção “Investigadores”. Com base na equipa definida, o Authenticus produz listas de publicações, estatísticas e relatórios institucionais.
As publicações listadas no perfil da Instituição no Authenticus dependem de dois parâmetros:
- Investigadores associados à equipa da Instituição em cada ano.
- Origem das Publicações.
As publicações associadas à Instituição podem ter três origens:
- Publicações validadas pelos membros da equipa - Inclui todas as publicações validadas pelos membros da equipa; é necessário que a equipa da Instituição esteja definida.
- Todas as Publicadas pelos membros da equipa - Inclui todas as anteriores mais aquelas em que um dos autores foi identificado com um membro da equipa, ainda que não tenha sido validada; é necessário que a equipa da Instituição esteja definida.
- Com Base na Afiliação - inclui todas as publicações que têm a Instituição ou o Grupo mencionado na afiliação; não é necessário que a equipa da Instituição esteja definida mas, por outro lado, não é garantido que todas as publicações da Instituição sejam listadas.
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Publications Count: 657
63 Team MembersFilters -> Year: 2024
AUTORES: Fonseca, A; Alves, E ; Leitao, JP ; Sobolev, NA; Carmo, MC; Nikiforov, AI;
PUBLICAÇÃO: 2005, FONTE: Symposium on Materials Science and Device Issues for Futrue Si-Based Technologies held at the 2005 EMRS Meeting in MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING B-SOLID STATE MATERIALS FOR ADVANCED TECHNOLOGY, VOLUME: 124, NÚMERO: SUPPL., PÁGINAS: 462-465
AUTORES: A. Pedro Aguiar ; Hespanha, JP; Kokotovic, PV;
PUBLICAÇÃO: 2005, FONTE: IEEE TRANSACTIONS ON AUTOMATIC CONTROL, VOLUME: 50, NÚMERO: 2, PÁGINAS: 234-239
AUTORES: A. Pedro Aguiar ; Hespanha, JP; Pascoal, AM ;
PUBLICAÇÃO: 2005, FONTE: 44th IEEE Conference on Decision Control/European Control Conference (CCD-ECC) in 2005 44th IEEE Conference on Decision and Control & European Control Conference, Vols 1-8, VOLUME: 2005, PÁGINAS: 4584-4589
AUTORES: A. Pedro Aguiar ; Hespanha, JP;
PUBLICAÇÃO: 2005, FONTE: 44th IEEE Conference on Decision Control/European Control Conference (CCD-ECC) in 2005 44TH IEEE CONFERENCE ON DECISION AND CONTROL & EUROPEAN CONTROL CONFERENCE, VOLS 1-8, VOLUME: 2005, PÁGINAS: 621-626
AUTORES: Caetano, A ; Sarychev, A; Seabra, D;
PUBLICAÇÃO: 2005, FONTE: Workshop on Optimal Control of Ordinary Differential Equations in CONTROL AND CYBERNETICS, VOLUME: 34, NÚMERO: 3, PÁGINAS: 689-707
AUTORES: Almeida, L ; Santos, Frederico ; Facchinetti, T; Pedreiras, P ; Silva, V ; Lopes, LS ;
PUBLICAÇÃO: 2004, FONTE: 19th International Symposium on Computer and Information Sciences (ISCIS 2004) in COMPUTER AND INFORMATION SCIENCES - ISCIS 2004, PROCEEDINGS, VOLUME: 3280, PÁGINAS: 876-886
AUTORES: Belmonte, M; Oliveira, FJ; Sacramento, J; Fernandes, AJS; Silva, RF ;
PUBLICAÇÃO: 2004, FONTE: 14th European Conference on Diamond, Diamond-like Materials, Carbon Nanotubes, Nitrides and Silicon Carbide in DIAMOND AND RELATED MATERIALS, VOLUME: 13, NÚMERO: 4-8, PÁGINAS: 843-847
AUTORES: Rodriguez Navas, G; Rigo, J; Proenza, J; Ferreira, J ; Almeida, L ; Fonseca, JA ;
PUBLICAÇÃO: 2004, FONTE: 2004 IEEE International Workshop on Factory Communication Systems - Proceedings, WFCS 2004 in IEEE International Workshop on Factory Communication Systems - Proceedings, WFCS, PÁGINAS: 229-238
AUTORES: A. Pedro Aguiar ; Hespanha, JP;
PUBLICAÇÃO: 2004, FONTE: American Control Conference in PROCEEDINGS OF THE 2004 AMERICAN CONTROL CONFERENCE, VOLS 1-6, VOLUME: 4, PÁGINAS: 3004-3010
AUTORES: Bajuelos, AL ; Tomas, AP ; Marques, F;
PUBLICAÇÃO: 2004, FONTE: International Conference on Computational Science and Its Applications (ICSSA 2004) in COMPUTATIONAL SCIENCE AND ITS APPLICATIONS - ICCSA 2004, PT 3, VOLUME: 3045, PÁGINAS: 127-136
AUTORES: A. Pedro Aguiar ; Hespanha, JP;
PUBLICAÇÃO: 2004, FONTE: 43rd IEEE Conference on Decision and Control in 2004 43RD IEEE CONFERENCE ON DECISION AND CONTROL (CDC), VOLS 1-5, VOLUME: 3, PÁGINAS: 3126-3131
AUTORES: Fonseca, A; Sobolev, NA; Leitao, JP ; Carmo, MC; Franco, N; Presting, H; Sequeira, AD;
PUBLICAÇÃO: 2004, FONTE: 2nd International Materials Symposium in ADVANCED MATERIALS FORUM II, VOLUME: 455-456, PÁGINAS: 540-544
AUTORES: A. Pedro Aguiar ; Hespanha, JP;
PUBLICAÇÃO: 2004, FONTE: 1st IEEE International Symposium on Control, Communications and Signal Processing (ISCCSP 2004) in ISCCSP : 2004 FIRST INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON CONTROL, COMMUNICATIONS AND SIGNAL PROCESSING, PÁGINAS: 3-6
AUTORES: Romanenko, A; Santos, LO ; Afonso, PAFNA;
PUBLICAÇÃO: 2004, FONTE: INDUSTRIAL & ENGINEERING CHEMISTRY RESEARCH, VOLUME: 43, NÚMERO: 23, PÁGINAS: 7531-7538
AUTORES: Romanenko, A; Oliveira, NMC ; Santos, LO ; Afonso, PAFNA;
PUBLICAÇÃO: 2003, FONTE: 8th International Symposium on Process Systems Engineering in PROCESS SYSTEMS ENGINEERING 2003, PTS A AND B, VOLUME: 15, NÚMERO: C, PÁGINAS: 1346-1351
AUTORES: Tomas, AP ; Bajuelos, AL ; Marques, F;
PUBLICAÇÃO: 2003, FONTE: International Conference on Computational Science (ICCS 2003) in COMPUTATIONAL SCIENCE - ICCS 2003, PT I, PROCEEDINGS, VOLUME: 2657, PÁGINAS: 869-878
AUTORES: Sobolev, NA; Fonseca, A; Leitao, JP ; Carmo, MC; Presting, H; Kibbel, H;
PUBLICAÇÃO: 2003, FONTE: 2nd International Conference on Semiconductor Quantum Dots in 2ND INTERNATIONAL CONFERENCE ON SEMICONDUCTOR QUANTUM DOTS, NÚMERO: 4, PÁGINAS: 1267-1270
AUTORES: Nossa, A; Cavaleiro, A ;
PUBLICAÇÃO: 2003, FONTE: 29th International Conference on Metallurgical Coatings and Thin Films in SURFACE & COATINGS TECHNOLOGY, VOLUME: 163, PÁGINAS: 552-560
AUTORES: A. Pedro Aguiar ; Hespanha, JP;
PUBLICAÇÃO: 2003, FONTE: 42nd IEEE Conference on Decision and Control in 42ND IEEE CONFERENCE ON DECISION AND CONTROL, VOLS 1-6, PROCEEDINGS, VOLUME: 5, PÁGINAS: 4908-4913
AUTORES: Resende, FO ; Lopes, JAP; Teiga, FJ;
PUBLICAÇÃO: 2003, FONTE: Informacion Tecnologica, VOLUME: 14, NÚMERO: 5, PÁGINAS: 51-59