Inesc Tecnologia e Ciência (INESC TEC)
Inesc Technology and Science
Uma Instituição (Grupo) no Authenticus é uma organização que engloba um conjunto de Investigadores (equipa da Instituição ou do Grupo). O conjunto de Investigadores depende da estrutura organizacional da instituição em cada ano e pode ser definido no perfil da Instituição, na secção “Investigadores”. Com base na equipa definida, o Authenticus produz listas de publicações, estatísticas e relatórios institucionais.
As publicações listadas no perfil da Instituição no Authenticus dependem de dois parâmetros:
- Investigadores associados à equipa da Instituição em cada ano.
- Origem das Publicações.
As publicações associadas à Instituição podem ter três origens:
- Publicações validadas pelos membros da equipa - Inclui todas as publicações validadas pelos membros da equipa; é necessário que a equipa da Instituição esteja definida.
- Todas as Publicadas pelos membros da equipa - Inclui todas as anteriores mais aquelas em que um dos autores foi identificado com um membro da equipa, ainda que não tenha sido validada; é necessário que a equipa da Instituição esteja definida.
- Com Base na Afiliação - inclui todas as publicações que têm a Instituição ou o Grupo mencionado na afiliação; não é necessário que a equipa da Instituição esteja definida mas, por outro lado, não é garantido que todas as publicações da Instituição sejam listadas.
Only validated by team members publications are included.
Only the current year team is included in this action.>
The action is executed in the background, thus the results are NOT immediate.
This actions can be executed only once a month!
Only validated by current year team members publications are included.
The action is executed in the background, thus the results are NOT immediate.
This actions can be executed only once a day!
Publications Count: 18438
1699 Team MembersFilters -> Year: 2024
AUTORES: Rui C C d S F da Silva ;
PUBLICAÇÃO: 2000
AUTORES: Rui C C d S F da Silva ;
PUBLICAÇÃO: 2000
AUTORES: Pinho, LM ; Vasques, F ; Tovar, E ;
PUBLICAÇÃO: 2000, FONTE: 3rd IEEE International Workshop on Factory Communications Systems (WFCS 2000) in 2000 IEEE INTERNATIONAL WORKSHOP ON FACTORY COMMUNICATION SYSTEMS, PROCEEDINGS, PÁGINAS: 77-84
AUTORES: Lopes, AD; Jorge, A ;
PUBLICAÇÃO: 2000, FONTE: International Joint Conference of the 7th Ibero-American Conference on AI/15th Brazilian Symposium on AI in ADVANCES IN ARTIFICIAL INTELLIGENCE, VOLUME: 1952, PÁGINAS: 33-42
AUTORES: Miranda, V ; Matos, M ; Lopes, JP ; Saraiva, JT ; Fidalgo, JN ; de Leao, MTP;
PUBLICAÇÃO: 2000, FONTE: IEEE Power-Engineering-Society Summer Meeting in 2000 IEEE POWER ENGINEERING SOCIETY SUMMER MEETING, CONFERENCE PROCEEDINGS, VOLS 1-4, VOLUME: 1, PÁGINAS: 163-168
AUTORES: Jauregui, C; Araujo, FM; Ferreira, LA; Santos, JL ; Lopez Higuera, JM;
PUBLICAÇÃO: 2000, FONTE: 14th International Conference on Optical Fiber Sensors in Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, VOLUME: 4185, PÁGINAS: 728-731
AUTORES: Jauregui, C; Araujo, FM; Ferreira, LA; Santos, JL ; Lopez Higuera, JM;
PUBLICAÇÃO: 2000, FONTE: 14th International Conference on Optical Fiber Sensors in Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, VOLUME: 4185, PÁGINAS: 716-719
AUTORES: Baptista, JM ; Santos, JL ; Lage, AS;
PUBLICAÇÃO: 2000, FONTE: 14th International Conference on Optical Fiber Sensors in 14TH INTERNATIONAL CONFERENCE ON OPTICAL FIBER SENSORS, VOLUME: 4185, PÁGINAS: 62-65
AUTORES: Gama, J ;
PUBLICAÇÃO: 2000, FONTE: Intelligent Data Analysis, VOLUME: 4, NÚMERO: 6, PÁGINAS: 475-488
AUTORES: Miranda, V ; Pereira, J ; Saraiva, JT ;
PUBLICAÇÃO: 2000, FONTE: IEEE TRANSACTIONS ON POWER SYSTEMS, VOLUME: 15, NÚMERO: 2, PÁGINAS: 529-534
AUTORES: Baptista, JM ; Santos, JL ; Lage, AS;
PUBLICAÇÃO: 2000, FONTE: OPTICAL ENGINEERING, VOLUME: 39, NÚMERO: 6, PÁGINAS: 1636-1644
AUTORES: Soares, C ; Brazdil, P ; Costa, J ;
PUBLICAÇÃO: 2000, FONTE: 7th Conference of the International-Federation-of-Classification-Societies in DATA ANALYSIS, CLASSIFICATION, AND RELATED METHODS, PÁGINAS: 119-124
AUTORES: Machado Da Silva, J ; Duarte, JS; Matos, JS ;
PUBLICAÇÃO: 2000, FONTE: Design, Automation and Test in Europe Conference and Exhibition 2000, DATE 2000 in Proceedings -Design, Automation and Test in Europe, DATE, PÁGINAS: 744
AUTORES: Nuno M Preguiça ; Carlos Baquero ; Francisco Moura ; José Legatheaux Martins; Rui Carlos Oliveira ; Henrique João L Domingos; José Orlando Pereira ; Sérgio Duarte;
PUBLICAÇÃO: 2000, FONTE: East-European Conference on Advances in Databases and Information Systems Held Jointly with International Conference on Database Systems for Advanced Applications, ADBIS-DASFAA 2000 in Current Issues in Databases and Information Systems, East-European Conference on Advances in Databases and Information Systems Held Jointly with International Conference on Database Systems for Advanced Applications, ADBIS-DASFAA 2000, Prague, Czech Republic, September 5-8, 2000, Proceedings, VOLUME: 1884, PÁGINAS: 379-386
AUTORES: Jose M. M. M. de Almeida ; Antonio M. P. P. Leite; Jaymin Amin;
PUBLICAÇÃO: 2000, FONTE: Rare-Earth-Doped Materials and Devices IV
AUTORES: de Almeida, JMMM ; Leite, AMPP ; Amin, J;
PUBLICAÇÃO: 2000, FONTE: Conference on Rare-Earth-Doped Materials and Devices IV in RARE-EARTH-DOPED MATERIALS AND DEVICES IV, VOLUME: 3942, PÁGINAS: 253-260
AUTORES: Matos, MA ; Hatziargyriou, ND; Lopes, JAP ;
PUBLICAÇÃO: 2000, FONTE: IEEE TRANSACTIONS ON POWER SYSTEMS, VOLUME: 15, NÚMERO: 1, PÁGINAS: 177-183
AUTORES: Araujo, RE ; Freitas, DS ;
PUBLICAÇÃO: 2000, FONTE: INTERNATIONAL JOURNAL OF ADAPTIVE CONTROL AND SIGNAL PROCESSING, VOLUME: 14, NÚMERO: 2-3, PÁGINAS: 331-353
AUTORES: Costa, VS ; Rocha, R ; Silva, F ;
PUBLICAÇÃO: 2000, FONTE: 6th International Euro-Par 2000 Conference in EURO-PAR 2000 PARALLEL PROCESSING, PROCEEDINGS, VOLUME: 1900, PÁGINAS: 744-753
AUTORES: Valente, A ; Couto, C ; Correia, JH ;
PUBLICAÇÃO: 2000, FONTE: IEEE International Symposium on Industrial Electronics (ISIE 2000) in PROCEEDINGS OF THE 2000 IEEE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON INDUSTRIAL ELECTRONICS, VOL 1 AND 2, VOLUME: 2, PÁGINAS: 576-579