Universidade de Aveiro (UA)
University of Aveiro
Uma Instituição (Grupo) no Authenticus é uma organização que engloba um conjunto de Investigadores (equipa da Instituição ou do Grupo). O conjunto de Investigadores depende da estrutura organizacional da instituição em cada ano e pode ser definido no perfil da Instituição, na secção “Investigadores”. Com base na equipa definida, o Authenticus produz listas de publicações, estatísticas e relatórios institucionais.
As publicações listadas no perfil da Instituição no Authenticus dependem de dois parâmetros:
- Investigadores associados à equipa da Instituição em cada ano.
- Origem das Publicações.
As publicações associadas à Instituição podem ter três origens:
- Publicações validadas pelos membros da equipa - Inclui todas as publicações validadas pelos membros da equipa; é necessário que a equipa da Instituição esteja definida.
- Todas as Publicadas pelos membros da equipa - Inclui todas as anteriores mais aquelas em que um dos autores foi identificado com um membro da equipa, ainda que não tenha sido validada; é necessário que a equipa da Instituição esteja definida.
- Com Base na Afiliação - inclui todas as publicações que têm a Instituição ou o Grupo mencionado na afiliação; não é necessário que a equipa da Instituição esteja definida mas, por outro lado, não é garantido que todas as publicações da Instituição sejam listadas.
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Publications Count: 23107
925 Team MembersFilters -> Year: 2024
AUTORES: Xu, LH; Nie, GQ; Lian, F; Bai, JZ; Chen, H; Fu, Z; He, RS; Qian, YB; Ferreira, JMF ;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: 2nd China International Conference on High-Performance Ceramics (CICC-2) in HIGH-PERFORMANCE CERAMICS 2001, PROCEEDINGS, VOLUME: 224-2, PÁGINAS: 287-290
AUTORES: Alves, E ; Barradas, NP ; Monteiro, T ; Correia, R; Kreissig, U;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: 7th European Conference on Accelerators in Applied Research and Technology in NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS, VOLUME: 188, NÚMERO: 1-4, PÁGINAS: 73-77
AUTORES: Goncalves, MC; Bermudez, VD; Ostrovskii, D; Carlos, LD ;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: JOURNAL OF MOLECULAR STRUCTURE, VOLUME: 611, NÚMERO: 1-3, PÁGINAS: 83-93
AUTORES: Tsipis, EV ; Patrakeev, MV; Kharton, VV ; Vyshatko, NP; Frade, JR ;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: JOURNAL OF MATERIALS CHEMISTRY, VOLUME: 12, NÚMERO: 12, PÁGINAS: 3738-3745
AUTORES: Pinto, A ;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: Journal of Optical Networking, VOLUME: 1, NÚMERO: 3, PÁGINAS: 153
AUTORES: Almeida, MA ; Cunha, MA ; Alcantara, F;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: Aquatic Ecology, VOLUME: 36, NÚMERO: 4, PÁGINAS: 469-482
AUTORES: Filipe, EJM ; Dias, LMB; Calado, JCG; McCabe, C; Jackson, G;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: Bunsen Meeting on Global Phase Diagrams in PHYSICAL CHEMISTRY CHEMICAL PHYSICS, VOLUME: 4, NÚMERO: 9, PÁGINAS: 1618-1621
AUTORES: Dorogovtsev, SN ; Goltsev, AV ; Mendes, JFF ;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: PHYSICAL REVIEW E, VOLUME: 66, NÚMERO: 1, PÁGINAS: 016104/1-016104/5
AUTORES: Fonseca, JA ; Ferreira, J ; Calha, M; Pedreiras, P ; Almeida, L ;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: 6th IEEE Africon Conference in 2002 IEEE AFRICON, VOLS 1 AND 2: ELECTROTECHNOLOGICAL SERVICES FOR AFRICA, VOLUME: 1, PÁGINAS: 221-226
AUTORES: Costa, VAF ;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: INTERNATIONAL JOURNAL OF HEAT AND MASS TRANSFER, VOLUME: 45, NÚMERO: 20, PÁGINAS: 4217-4225
AUTORES: Carvalho, TMM; Coelho, COA ; Ferreira, AJD ; Charlton, CA;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: LAND DEGRADATION & DEVELOPMENT, VOLUME: 13, NÚMERO: 2, PÁGINAS: 177-188
AUTORES: Dias, A ; Lopes, E; Arroja, L ; Capela, I ; Pereria, F;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: APPITA JOURNAL, VOLUME: 55, NÚMERO: 1, PÁGINAS: 21-26
AUTORES: Morais, S; Narciso, L ; Calado, R ; Nunes, ML ; Rosa, R ;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: MARINE ECOLOGY PROGRESS SERIES, VOLUME: 242, PÁGINAS: 195-204
AUTORES: Freire, CSR ; Silvestre, AJD ; Neto, CP ; Cavaleiro, JAS ;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: HOLZFORSCHUNG, VOLUME: 56, NÚMERO: 4, PÁGINAS: 372-379
AUTORES: Rainho, JP; Pillinger, M ; Carlos, LD ; Ribeiro, SJL; Almeida, RM ; Rocha, J ;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: JOURNAL OF MATERIALS CHEMISTRY, VOLUME: 12, NÚMERO: 4, PÁGINAS: 1162-1168
AUTORES: Niehus, M; Sanguino, P; Schwarz, R ; Monteiro, T ; Soares, MJ ; Pereira, E; Kunst, M; Koynov, S;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: International Workshop on Nitride Semiconductors (IWN 2002) in INTERNATIONAL WORKSHOP ON NITRIDE SEMICONDUCTORS, PROCEEDINGS, NÚMERO: 1, PÁGINAS: 386-391
AUTORES: Monteiro, T ; Boemare, C; Soares, MJ ; Alves, E ; Marques, C; McHargue, C; Ononye, LC; Allard, LF;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: 11th International Conference on Radiation Effects in Insulators in NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS, VOLUME: 191, NÚMERO: 1-4, PÁGINAS: 638-643
AUTORES: Monteiro, T ; Soares, MJ ; Santos, L; Boemare, C; Cascalheira, J; Alves, LC ; Alves, E ;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: RADIATION EFFECTS AND DEFECTS IN SOLIDS, VOLUME: 157, NÚMERO: 6-12, PÁGINAS: 1117-1122
AUTORES: Monteiro, T ; Soares, MJ ; Santos, L; Boemare, C; Cascalheira, J; Alves, LC ; Alves, E ;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: Radiation Effects and Defects in Solids, VOLUME: 157, NÚMERO: 6-12, PÁGINAS: 1117-1122
AUTORES: Reis, MS; Araujo, JP ; Amaral, VS ; Lenzi, EK; Oliveira, IS;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: PHYSICAL REVIEW B, VOLUME: 66, NÚMERO: 13, PÁGINAS: 1344171-1344176