Universidade de Aveiro (UA)
University of Aveiro
Uma Instituição (Grupo) no Authenticus é uma organização que engloba um conjunto de Investigadores (equipa da Instituição ou do Grupo). O conjunto de Investigadores depende da estrutura organizacional da instituição em cada ano e pode ser definido no perfil da Instituição, na secção “Investigadores”. Com base na equipa definida, o Authenticus produz listas de publicações, estatísticas e relatórios institucionais.
As publicações listadas no perfil da Instituição no Authenticus dependem de dois parâmetros:
- Investigadores associados à equipa da Instituição em cada ano.
- Origem das Publicações.
As publicações associadas à Instituição podem ter três origens:
- Publicações validadas pelos membros da equipa - Inclui todas as publicações validadas pelos membros da equipa; é necessário que a equipa da Instituição esteja definida.
- Todas as Publicadas pelos membros da equipa - Inclui todas as anteriores mais aquelas em que um dos autores foi identificado com um membro da equipa, ainda que não tenha sido validada; é necessário que a equipa da Instituição esteja definida.
- Com Base na Afiliação - inclui todas as publicações que têm a Instituição ou o Grupo mencionado na afiliação; não é necessário que a equipa da Instituição esteja definida mas, por outro lado, não é garantido que todas as publicações da Instituição sejam listadas.
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Publications Count: 23107
925 Team MembersFilters -> Year: 2024
AUTORES: Tome, JPC ; Tome, AC ; Neves, MGPMS ; Cavaleiro, JAS ;
PUBLICAÇÃO: 1997, FONTE: TETRAHEDRON LETTERS, VOLUME: 38, NÚMERO: 15, PÁGINAS: 2753-2756
AUTORES: Goodfellow, BJ ; Pacheco, SMD; deJesus, JP; Felix, V ; Drew, MGB;
PUBLICAÇÃO: 1997, FONTE: POLYHEDRON, VOLUME: 16, NÚMERO: 19, PÁGINAS: 3293-3304
AUTORES: Marques, IP; Teixeira, A; Rodrigues, L; Dias, SM ; Novais, JM;
PUBLICAÇÃO: 1997, FONTE: ENVIRONMENTAL TECHNOLOGY, VOLUME: 18, NÚMERO: 3, PÁGINAS: 265-274
AUTORES: Amado, FML ; SantanaMarques, MG; FerrerCorreia, AJ; Tomer, KB;
PUBLICAÇÃO: 1997, FONTE: ANALYTICAL CHEMISTRY, VOLUME: 69, NÚMERO: 6, PÁGINAS: 1102-1106
AUTORES: Ferreira, MFS ;
PUBLICAÇÃO: 1997, FONTE: Conference on Physics and Simulation of Optoelectronic Devices V in PHYSICS AND SIMULATION OF OPTOELECTRONIC DEVICES V, VOLUME: 2994, PÁGINAS: 349-357
AUTORES: Silvestre, AJD ; Cavaleiro, JAS ; Delmond, B; Filliatre, C; Bourgeois, G;
PUBLICAÇÃO: 1997, FONTE: INDUSTRIAL CROPS AND PRODUCTS, VOLUME: 6, NÚMERO: 1, PÁGINAS: 27-33
AUTORES: Valadas, RT; Tavares, AR; De Oliveira Duarte, AM ;
PUBLICAÇÃO: 1997, FONTE: International Journal of Wireless Information Networks, VOLUME: 4, NÚMERO: 4, PÁGINAS: 275-288
AUTORES: Mendes, JA ; Amaral, VS ; Sousa, JB ; Thomas, L; Barbara, B;
PUBLICAÇÃO: 1997, FONTE: 41st Annual Conference on Magnetism and Magnetic Materials in JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, VOLUME: 81, NÚMERO: 8, PÁGINAS: 5208-5210
AUTORES: Veloso, JFCA ; dosSantos, JMF ; Conde, CAN ; Morgado, RE;
PUBLICAÇÃO: 1997, FONTE: European Conference on Energy Dispersive X-Ray Spectrometry in X-RAY SPECTROMETRY, VOLUME: 26, NÚMERO: 4, PÁGINAS: 237-243
AUTORES: Rocha, TAP ; Duarte, AC ;
PUBLICAÇÃO: 1997, FONTE: Symposium on Analytical Science and the Environment in ANALYST, VOLUME: 122, NÚMERO: 12, PÁGINAS: 1509-1515
AUTORES: Simoes, PCPS; Veloso, JFCA ; dosSantos, JMF ; Conde, CAN ;
PUBLICAÇÃO: 1997, FONTE: 1996 Nuclear Science Symposium and Medical Imaging Conference in IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, VOLUME: 44, NÚMERO: 3, PÁGINAS: 521-526
AUTORES: Kudyba, A; Almeida, M ; Hintzen, HT; Van Der Heijde, JCT; Laven, J; Metselaar, R;
PUBLICAÇÃO: 1997, FONTE: Key Engineering Materials, VOLUME: 132-136, PÁGINAS: 325-328
AUTORES: Granja, MFL; Doreau, F; Ferreira, JMF ;
PUBLICAÇÃO: 1997, FONTE: Key Engineering Materials, VOLUME: 132-136, PÁGINAS: 362-365
AUTORES: Perreau, VM; Santos, MAS ; Tuite, MF;
PUBLICAÇÃO: 1997, FONTE: Molecular Microbiology, VOLUME: 25, NÚMERO: 2, PÁGINAS: 229-236
AUTORES: Seitz, R; Gaspar, C; Monteiro, T ; Pereira, E; Leroux, M; Beaumont, B; Gibart, P;
PUBLICAÇÃO: 1997, FONTE: 19th International Conference on Defects in Semiconductors (ICDS-19) in DEFECTS IN SEMICONDUCTORS - ICDS-19, PTS 1-3, VOLUME: 258-2, NÚMERO: PART 2, PÁGINAS: 1155-1160
AUTORES: Monteiro, T ; Pereira, E; Correia, MR ; Xavier, C; Hofmann, DM; Meyer, BK; Fischer, S; Cremades, A; Piqueras, J;
PUBLICAÇÃO: 1997, FONTE: 1996 International Conference on luminescence and Optical Spectroscopy of Condensed Matter (ICL 96) in JOURNAL OF LUMINESCENCE, VOLUME: 72-4, PÁGINAS: 696-700
AUTORES: Andersen, NE; Nordeste, PMN; Duarte, AMD ; Lassen, HE; Ekblad, A; Pach, AR; Amborski, K; Dittmann, L;
PUBLICAÇÃO: 1997, FONTE: IEEE COMMUNICATIONS MAGAZINE, VOLUME: 35, NÚMERO: 12, PÁGINAS: 88-93
AUTORES: Da Rosa Pires, A ; De Castro, EA ;
PUBLICAÇÃO: 1997, FONTE: Science and Public Policy, VOLUME: 24, NÚMERO: 1, PÁGINAS: 15-20
AUTORES: Tome, AC ; Enes, RF; Cavaleiro, JAS ; Martarello, L; Kirsch, G;
PUBLICAÇÃO: 1997, FONTE: SYNLETT, NÚMERO: 12, PÁGINAS: 1444-1446
AUTORES: Liepold, A; Roos, K; Reschetilowski, W; Lin, Z ; Rocha, J ; Philippou, A; Anderson, MW;
PUBLICAÇÃO: 1997, FONTE: MICROPOROUS MATERIALS, VOLUME: 10, NÚMERO: 4-6, PÁGINAS: 211-224