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Manuel Filipe Pereira da Cunha Martins Costa
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R-000-A40
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1990
1989
1988
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Ano Dsc
Ano Asc
Cit. WOS Dsc
IF WOS Dsc
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IF Scopus Dsc
Título Asc
Título Dsc
Results:
10
20
30
40
50
Publicações Confirmadas: 67
31
TÃTULO:
a-Si : H interface optimisation for thin film position sensitive detectors produced on polymeric substrates
Full Text
AUTORES:
Pereira, L
; Brida, D;
Fortunato, E
;
Ferreira, I
;
Aguas, H
;
Silva, V
;
Costa, MFM
;
Teixeira, V
;
Martins, R
;
PUBLICAÇÃO:
2002
,
FONTE:
19th International Conference on Amorphous and Microcrystalline Semiconductors (ICAMS 19)
in
JOURNAL OF NON-CRYSTALLINE SOLIDS,
VOLUME:
299,
NÚMERO:
PART 2
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
32
TÃTULO:
Chromium-based thin sputtered composite coatings for solar thermal collectors
Full Text
AUTORES:
Teixeira, V
; Sousa, E;
Costa, MF
; Nunes, C; Rosa, L;
Carvalho, MJ
;
Collares Pereira, M
; Roman, E; Gago, J;
PUBLICAÇÃO:
2002
,
FONTE:
4th Iberian Vacuum Meeting (IVM-4)
in
VACUUM,
VOLUME:
64,
NÚMERO:
3-4
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
33
TÃTULO:
Classification of photorefraction images using neural networks
Full Text
AUTORES:
Costa, MFM
;
PUBLICAÇÃO:
2002
,
FONTE:
International Joint Conference on Neural Networks (IJCNN 02)
in
PROCEEDING OF THE 2002 INTERNATIONAL JOINT CONFERENCE ON NEURAL NETWORKS, VOLS 1-3,
VOLUME:
2
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
34
TÃTULO:
Dependence of the strains and residual mechanical stresses on the performances presented by a-Si : H thin film position sensors
Full Text
AUTORES:
Fortunato, E
; Brida, D;
Pereira, L
;
Aguas, H
;
Silva, V
;
Ferreira, I
;
Costa, MFM
; Teixeira, T;
Martins, R
;
PUBLICAÇÃO:
2002
,
FONTE:
ADVANCED ENGINEERING MATERIALS,
VOLUME:
4,
NÚMERO:
8
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
35
TÃTULO:
In-situ plasma emission optical spectroscopy during pulsed laser ablation deposition of PZTN thin films
Full Text
AUTORES:
Jimenez, E;
Gomes, MJM
;
Pereira, M
;
Costa, MF
;
Ferreira, MIC
;
PUBLICAÇÃO:
2002
,
FONTE:
4th Iberian Vacuum Meeting (IVM-4)
in
VACUUM,
VOLUME:
64,
NÚMERO:
3-4
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
36
TÃTULO:
New trends on light and Optics' teaching. Building bridges to the information society. The OPTICA' XXI project.
AUTORES:
Costa, MFM
;
PUBLICAÇÃO:
2002
,
FONTE:
7th International Conference on Education and Training in Optics and Photonics
in
SEVENTH INTERNATIONAL CONFERENCE ON EDUCATION AND TRAINING IN OPTICS AND PHOTONICS,
VOLUME:
4588
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
37
TÃTULO:
Structural and optical characterization of WO3 deposited on glass and ITO
Full Text
AUTORES:
Monteiro, A
;
Costa, MF
;
Almeida, B
;
Teixeira, V
; Gago, J; Roman, E;
PUBLICAÇÃO:
2002
,
FONTE:
4th Iberian Vacuum Meeting (IVM-4)
in
VACUUM,
VOLUME:
64,
NÚMERO:
3-4
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
38
TÃTULO:
Microtopographic characterization of graded Cr-Cr2O3 cermet solar coatings
AUTORES:
Costa, MFM
;
Teixeira, V
;
PUBLICAÇÃO:
2001
,
FONTE:
4th Iberoamerican Meeting on Optics and 7th Latin American Meeting on Optics, Lasers, and Their Applications
in
4TH IBEROAMERICAN MEETING ON OPTICS AND 7TH LATIN AMERICAN MEETING ON OPTICS, LASERS, AND THEIR APPLICATIONS,
VOLUME:
4419
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
NO MEU:
ORCID
39
TÃTULO:
Microtopographic inspection of thermoplastic rubber shoe's sole. The influence of surface roughness on sole to leather gluing
Full Text
AUTORES:
Costa, MFM
; Pinho, V;
PUBLICAÇÃO:
2001
,
FONTE:
NDT & E INTERNATIONAL,
VOLUME:
34,
NÚMERO:
1
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
40
TÃTULO:
Non invasive microtopographic inspection of rough surfaces by active triangulation
AUTORES:
Costa, MFM
;
PUBLICAÇÃO:
2001
,
FONTE:
International Symposium on Laser Metrology for Precision Measurement and Inspection in Industry
in
LASER METROLOGY FOR PRECISION MEASUREMENT AND INSPECTION IN INDUSTRY,
VOLUME:
4420
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
NO MEU:
ORCID
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