Mário António Caixeiro de Castro Pereira


AuthID: R-000-CV8

Publicações Confirmadas: 32



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TÍTULO: Influence of laser repetition rate on ferroelectric properties of pulsed laser deposited BaTiO3 films on platinized silicon substrate  Full Text
AUTORES: Silva, JPB; Sekhar, KC ; Almeida, A ; Agostinho Moreira, JA ; Pereira, M ; Gomes, MJM ;
PUBLICAÇÃO: 2013, FONTE: APPLIED PHYSICS A-MATERIALS SCIENCE & PROCESSING, VOLUME: 113, NÚMERO: 2
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef: 12
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TÍTULO: Thermal degradation of Pb(Zr0.53Ti0.47 )O-3/poly(vinylidene fluoride) composites as a function of ceramic grain size and concentration
AUTORES: Mendes, SF; Costa, CM; Sencadas, V ; Pereira, M ; Wu, AY; Vilarinho, PM ; Gregorio, R; Lanceros Mendez, S ;
PUBLICAÇÃO: 2013, FONTE: JOURNAL OF THERMAL ANALYSIS AND CALORIMETRY, VOLUME: 114, NÚMERO: 2
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef Handle
NO MEU: ORCID
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TÍTULO: Determination of residual stress in PZT films produced by laser ablation with X-ray diffraction and Raman spectroscopy  Full Text
AUTORES: Rodrigues, SAS; Rolo, AG ; Khodorov, A ; Pereira, M ; Gomes, MJM ;
PUBLICAÇÃO: 2010, FONTE: 11th Electroceramics Conference 2008 in JOURNAL OF THE EUROPEAN CERAMIC SOCIETY, VOLUME: 30, NÚMERO: 2
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef
NO MEU: ORCID
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TÍTULO: Ancient Portuguese Ceramic Wall Tiles ("Azulejos"): Characterization of the Glaze and Ceramic Pigments
AUTORES: Pereira, M ; de Lacerda Aroso, T ; Gomes, MJM ; Mata, A; Alves, LC ; Ph. Colomban;
PUBLICAÇÃO: 2009, FONTE: JOURNAL OF NANO RESEARCH, VOLUME: 8
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef
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TÍTULO: Characterization of Nb-doped PZT (65/35/1) ferroelectric thin films deposited by pulsed laser ablation  Full Text
AUTORES: Pereira, M ; Boerasu, I; Gomes, MJM ;
PUBLICAÇÃO: 2008, FONTE: 5th Iberian Vacuum Meeting in VACUUM, VOLUME: 82, NÚMERO: 12
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef
NO MEU: ORCID
10
TÍTULO: Dielectric nonlinearity in a compositionally graded lead zirconate titanate structure  Full Text
AUTORES: Khodorov, A ; Rodrigues, SAS; Pereira, M ; Gomes, MJM ;
PUBLICAÇÃO: 2008, FONTE: JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, VOLUME: 104, NÚMERO: 12
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef
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