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Pedro Miguel Pinto Ramos
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1998
1997
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Ano Asc
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IF WOS Dsc
Cit. Scopus Dsc
IF Scopus Dsc
Título Asc
Título Dsc
Results:
10
20
30
40
50
Publicações Confirmadas: 91
21
TÃTULO:
Advanced technique for non-destructive testing of friction stir welding of metals
Full Text
AUTORES:
Luis S Rosado
;
Telmo G Santos
;
Moises Piedade
;
Pedro M Ramos
;
Pedro Vilaca
;
PUBLICAÇÃO:
2010
,
FONTE:
19th IMEKO World Congress
in
MEASUREMENT,
VOLUME:
43,
NÚMERO:
8
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
22
TÃTULO:
COMPARATIVE ANALYSIS OF THREE ALGORITHMS FOR TWO-CHANNEL COMMON FREQUENCY SINEWAVE PARAMETER ESTIMATION: ELLIPSE FIT, SEVEN PARAMETER SINE FIT AND SPECTRAL SINC FIT
AUTORES:
Ramos, PM
;
Janeiro, FM
; Radil, T;
PUBLICAÇÃO:
2010
,
FONTE:
METROLOGY AND MEASUREMENT SYSTEMS,
VOLUME:
17,
NÚMERO:
2
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
23
TÃTULO:
Development of an Indoor Wireless Personal Area Network Based on Mechanically Steered Millimeter-Wave Lens Antenna
Full Text
AUTORES:
Jorge R. Costa
;
Eduardo B Lima
;
Carla R Medeiros
;
Tomas Radil
;
Raul C Martins
;
Pedro M Ramos
;
Carlos A Fernandes
;
PUBLICAÇÃO:
2010
,
FONTE:
International Instrumentation and Measurement Technology Conference (I2MTC)
in
2010 IEEE INTERNATIONAL INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT TECHNOLOGY CONFERENCE I2MTC 2010, PROCEEDINGS
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
:
3
NO MEU:
ORCID
24
TÃTULO:
Developments of low-cost procedure to estimate cloud base height based on a digital camera
Full Text
AUTORES:
Fernando M Janeiro
;
Pedro M Ramos
;
Frank Wagner
;
Silva, AM
;
PUBLICAÇÃO:
2010
,
FONTE:
19th IMEKO World Congress
in
MEASUREMENT,
VOLUME:
43,
NÚMERO:
5
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
25
TÃTULO:
Frequency domain parameter estimation of two common frequency single-tone signals
Full Text
AUTORES:
Tomas Radil
;
Pedro M Ramos
;
PUBLICAÇÃO:
2010
,
FONTE:
MEASUREMENT,
VOLUME:
43,
NÚMERO:
9
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
26
TÃTULO:
Impedance measuring system based on a dsPIC
AUTORES:
Santos, J;
Ramos, PM
;
PUBLICAÇÃO:
2010
,
FONTE:
17th Symposium IMEKO TC4 - Measurement of Electrical Quantities, 15th International Workshop on ADC Modelling and Testing, and 3rd Symposium IMEKO TC19 - Environmental Measurements
in
17th Symposium IMEKO TC4 - Measurement of Electrical Quantities, 15th International Workshop on ADC Modelling and Testing, and 3rd Symposium IMEKO TC19 - Environmental Measurements
INDEXADO EM:
Scopus
NO MEU:
ORCID
27
TÃTULO:
Impedance Spectroscopy of a Vibrating Wire for Viscosity Measurements
Full Text
AUTORES:
Janeiro, FM
;
Ramos, PM
;
Fareleira, JMNA
; Diogo, JCF; Maximo, DRC;
Caetano, FJP
;
PUBLICAÇÃO:
2010
,
FONTE:
International Instrumentation and Measurement Technology Conference (I2MTC)
in
2010 IEEE INTERNATIONAL INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT TECHNOLOGY CONFERENCE I2MTC 2010, PROCEEDINGS
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
Handle
NO MEU:
ORCID
28
TÃTULO:
Improvement of Phase Difference Estimation Using Modified Ellipse Fit Method
Full Text
AUTORES:
Zeeshan. A Awan
;
Pedro M Ramos
;
PUBLICAÇÃO:
2010
,
FONTE:
International Instrumentation and Measurement Technology Conference (I2MTC)
in
2010 IEEE INTERNATIONAL INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT TECHNOLOGY CONFERENCE I2MTC 2010, PROCEEDINGS
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
29
TÃTULO:
Low-cost mechanically steered millimeter-wave lens antenna system for indoor LANs
AUTORES:
Fernandes, CA
;
Martins, RC
; Radil, T;
Ramos, PM
;
Lima, EB
;
Medeiros, CR
;
Jorge R. Costa
;
PUBLICAÇÃO:
2010
,
FONTE:
2010 International Workshop on Antenna Technology: Small Antennas, Innovative Structures and Materials, iWAT2010
in
Final Program and Book of Abstracts - iWAT 2010: 2010 International Workshop on Antenna Technology: Small Antennas, Innovative Structures and Materials
INDEXADO EM:
Scopus
CrossRef
:
2
NO MEU:
ORCID
30
TÃTULO:
Power Quality Detection and Classification Method for IEC 61000-4-30 Class A Instruments
Full Text
AUTORES:
Tomas Radil
;
Pedro M Ramos
;
PUBLICAÇÃO:
2010
,
FONTE:
International Instrumentation and Measurement Technology Conference (I2MTC)
in
2010 IEEE INTERNATIONAL INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT TECHNOLOGY CONFERENCE I2MTC 2010, PROCEEDINGS
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
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