31
TÍTULO: Combined spectral and histogram analysis for fast ADC testing
AUTORES: Serra, AC ; da Silva, MF; Ramos, PM ; Martins, RC ; Michaeli, L; Saliga, J;
PUBLICAÇÃO: 2005, FONTE: 21st IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference in IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT, VOLUME: 54, NÚMERO: 4
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef
32
TÍTULO: Signal discrimination in superheated droplet detectors
AUTORES: Felizardo, M ; Martins, RC ; Ramos, AR ; Morlat, T; Giuliani, F; Marques, JG ; Limagne, D; Waysand, G; Fernandes, AC ; Girard, TA ; Alegria, F;
PUBLICAÇÃO: 2005, FONTE: IMTC'05 - Proceedings of the IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference in Conference Record - IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference, VOLUME: 2
INDEXADO EM: Scopus
NO MEU: ORCID
33
TÍTULO: SIMPLE dark matter search results  Full Text
AUTORES: Girard, TA ; Giuliani, F; Morlat, T; da Costa, MF ; Collar, JI; Limagne, C; Waysand, G; Puibasset, J; Miley, HS; Auguste, M; Boyer, D; Cavaillou, A; Marques, JG ; Oliveira, C; Fernandes, AC; Ramos, AR ; Martins, RC ;
PUBLICAÇÃO: 2005, FONTE: PHYSICS LETTERS B, VOLUME: 621, NÚMERO: 3-4
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef: 48
34
TÍTULO: Analog-to-digital converter testing - new proposals  Full Text
AUTORES: Serra, AC ; Alegria, F ; Martins, R ; da Silva, MF;
PUBLICAÇÃO: 2004, FONTE: 4th International Conference on Advanced A/D and D/A Conversion Techniques/7th European Workshop on ADC Modelling and Testing in COMPUTER STANDARDS & INTERFACES, VOLUME: 26, NÚMERO: 1
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35
TÍTULO: Automated methodology for modeling and measuring memoryless nonlinearities from the stochastic properties of a signal
AUTORES: Martins, RC ; Serra, AC ;
PUBLICAÇÃO: 2004, FONTE: 7th Africon Conference in Africa in 2004 IEEE AFRICON: 7TH AFRICON CONFERENCE IN AFRICA, VOLS 1 AND 2: TECHNOLOGY INNOVATION, VOLUME: 1
INDEXADO EM: Scopus WOS
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36
TÍTULO: Least-squares fitting algorithms applied to periodic signals  Full Text
AUTORES: Da Silva, MF; Ramos, PM ; Martins, RC ; Serra, AC ;
PUBLICAÇÃO: 2004, FONTE: Proceedings of the 21st IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference, IMTC/04 in Conference Record - IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference, VOLUME: 3
INDEXADO EM: Scopus CrossRef
NO MEU: ORCID
37
TÍTULO: Representation and measurement of nonlinearities in stimulus signals
AUTORES: Martins, RC ; Serra, AMD ;
PUBLICAÇÃO: 2003, FONTE: 19th IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference (IMTC/2002) in IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT, VOLUME: 52, NÚMERO: 4
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef
38
TÍTULO: Nonlinearity representation and PDF measurement of ADC testing signals  Full Text
AUTORES: Martins, RC ; Serra, AC ;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: 6th Euro Workshop on ADC Modelling and Testing (EWADC in MEASUREMENT, VOLUME: 32, NÚMERO: 4
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39
TÍTULO: Representation and measurement of nonlinearities in stimulus signals
AUTORES: Martins, RC ; Serra, AC ;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: 19th IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference (IMTC/2002) in IMTC 2002: PROCEEDINGS OF THE 19TH IEEE INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT TECHNOLOGY CONFERENCE, VOLS 1 & 2, VOLUME: 1
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40
TÍTULO: ADC interbit modulation: description, detection and quantification  Full Text
AUTORES: Martins, RC ; Serra, AMD ;
PUBLICAÇÃO: 2001, FONTE: COMPUTER STANDARDS & INTERFACES, VOLUME: 23, NÚMERO: 1
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