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Rodrigo Ferrao Paiva Martins
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1979
Order:
Ano Dsc
Ano Asc
Cit. WOS Dsc
IF WOS Dsc
Cit. Scopus Dsc
IF Scopus Dsc
Título Asc
Título Dsc
Results:
10
20
30
40
50
Publicações Confirmadas: 493
321
TÃTULO:
Role of the i layer surface properties on the performance of a-Si : H Schottky barrier photodiodes
Full Text
AUTORES:
Aguas, H
;
Fortunato, E
;
Martins, R
;
PUBLICAÇÃO:
2002
,
FONTE:
E-MARS Symposium on Materials in Microtechnologies and Microsystems
in
SENSORS AND ACTUATORS A-PHYSICAL,
VOLUME:
99,
NÚMERO:
1-2
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
322
TÃTULO:
Role of the i-layer thickness in the performance of a-Si : H Schottky barrier photodiodes
AUTORES:
Aguas, H
;
Fortunato, E
;
Pereira, L
;
Silva, V
;
Martins, R
;
PUBLICAÇÃO:
2002
,
FONTE:
1st International Materials Symposium (Materials 2001)
in
ADVANCED MATERIALS FORUM I,
VOLUME:
230-2
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
323
TÃTULO:
Silicon nanostructure thin film materials
Full Text
AUTORES:
Martins, R
;
Aguas, H
;
Silva, V
;
Ferreira, I
; Cabrita, A;
Fortunato, E
;
PUBLICAÇÃO:
2002
,
FONTE:
4th Iberian Vacuum Meeting (IVM-4)
in
VACUUM,
VOLUME:
64,
NÚMERO:
3-4
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
324
TÃTULO:
Structural characterisation of zinc oxide thin films produced by spray pyrolysis
AUTORES:
Nunes, P;
Fernandes, FMB
;
Silva, RJC
;
Fortunato, E
;
Martins, R
;
PUBLICAÇÃO:
2002
,
FONTE:
1st International Materials Symposium (Materials 2001)
in
ADVANCED MATERIALS FORUM I,
VOLUME:
230-2
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
:
4
NO MEU:
ORCID
325
TÃTULO:
Study of the sensing mechanism of SnO(2) thin-film gas sensors using hall effect measurements
AUTORES:
Lopes, A
;
Nunes, P
;
Vilarinho, P
;
Monteiro, R
;
Fortunato, E
;
Martins, R
;
PUBLICAÇÃO:
2002
,
FONTE:
1st International Materials Symposium (Materials 2001)
in
ADVANCED MATERIALS FORUM I,
VOLUME:
230-2
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
326
TÃTULO:
The properties of a-Si : H films deposited on Mylar substrates by hot-wire plasma assisted technique
Full Text
AUTORES:
Ferreira, I
;
Fortunato, E
;
Pereira, L
;
Elisabete, M
; Costa, V;
Martins, R
;
PUBLICAÇÃO:
2002
,
FONTE:
19th International Conference on Amorphous and Microcrystalline Semiconductors (ICAMS 19)
in
JOURNAL OF NON-CRYSTALLINE SOLIDS,
VOLUME:
299,
NÚMERO:
PART 1
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
327
TÃTULO:
Transparent, conductive ZnO : Al thin film deposited on polymer substrates by RF magnetron sputtering
Full Text
AUTORES:
Fortunato, E
;
Nunes, P
;
Marques, A
; Costa, D;
Aguas, H
;
Ferreira, I
;
Costa, MEV
;
Godinho, MH
;
Almeida, PL
;
Borges, JP
;
Martins, R
;
PUBLICAÇÃO:
2002
,
FONTE:
Spring Meeting of the European-Materials-Research-Society
in
SURFACE & COATINGS TECHNOLOGY,
VOLUME:
151
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
:
47
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
328
TÃTULO:
Application of amorphous silicon thin-film position-sensitive detector to optical rules
Full Text
AUTORES:
Martins, R
; Teodoro, P; Soares, F;
Ferreira, I
; Guimaraes, N;
Fortunato, E
; Borges, J; Jose, G; Groth, A; Schultze, L; Berndt, D; Reichel, F; Stam, F;
PUBLICAÇÃO:
2001
,
FONTE:
ADVANCED ENGINEERING MATERIALS,
VOLUME:
3,
NÚMERO:
3
INDEXADO EM:
WOS
NO MEU:
ResearcherID
329
TÃTULO:
Characterization of zinc oxide thin films deposited by rf magnetron sputtering on Mylar substrates
AUTORES:
Fortunato, E
; Nunes, P; Marques, A; Costa, D;
Aguas, H
;
Ferreira, I
;
Costa, MEV
;
Martins, R
;
PUBLICAÇÃO:
2001
,
FONTE:
Transport and Microstructural Phenomena in Oxide Electronics
in
Materials Research Society Symposium - Proceedings,
VOLUME:
666
INDEXADO EM:
Scopus
NO MEU:
ORCID
330
TÃTULO:
Correlation between a-Si : H surface oxidation process and the performance of MIS structures
Full Text
AUTORES:
Aguas, H
;
Nunes, Y
;
Fortunato, E
;
Gordo, P
;
Maneira, M
;
Martins, R
;
PUBLICAÇÃO:
2001
,
FONTE:
3rd Symposium O on Thin Film Materials for Large Area Electronics of the E-MRS 2000 Spring Meeting
in
THIN SOLID FILMS,
VOLUME:
383,
NÚMERO:
1-2
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
|
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