Rodrigo Ferrao Paiva Martins


AuthID: R-000-FKV

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331
TÍTULO: Correlation between the carbon and hydrogen contents with the gas species and the plasma impedance of silicon carbide films produced by PECVD technique  Full Text
AUTORES: Martins, R ; Silva, V; Aguas, H ; Cabrita, A; Ferreira, I ; Fortunato, E ;
PUBLICAÇÃO: 2001, FONTE: Spring Meeting of the European-Materials-Research-Society in APPLIED SURFACE SCIENCE, VOLUME: 184, NÚMERO: 1-4
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef
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332
TÍTULO: Correlation between the microscopic and macroscopic characteristics of SnO2 thin film gas sensors  Full Text
AUTORES: Lopes, A; Fortunato, E ; Nunes, P; Vilarinho, P ; Martins, R ;
PUBLICAÇÃO: 2001, FONTE: Spring Meeting of the European-Materials-Research-Society in INTERNATIONAL JOURNAL OF INORGANIC MATERIALS, VOLUME: 3, NÚMERO: 8
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef: 5
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333
TÍTULO: Effect of deposition conditions upon gas sensitivity of zinc oxide thin films deposited by spray pyrolysis
AUTORES: Nunes, P; Fortunato, E ; Vilarinho, P ; Martins, R ;
PUBLICAÇÃO: 2001, FONTE: 6th International Conference on Polycrystalline Semiconductors in POLYCRYSTALLINE SEMICONDUCTORS IV MATERIALS, TECHNOLOGIES AND LARGE AREA ELECTRONICS, VOLUME: 80-81
INDEXADO EM: Scopus WOS
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334
TÍTULO: Effect of different dopants on the properties of ZnO thin films  Full Text
AUTORES: Nunes, P; Fortunato, E ; Vilarinho, P ; Martins, R ;
PUBLICAÇÃO: 2001, FONTE: Spring Meeting of the European-Materials-Research-Society in INTERNATIONAL JOURNAL OF INORGANIC MATERIALS, VOLUME: 3, NÚMERO: 8
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef
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335
TÍTULO: Fast and cheap method to qualitatively measure the thickness and uniformity of ZrO2 thin films  Full Text
AUTORES: Aguas, H ; Marques, A; Martins, R ; Fortunato, E ;
PUBLICAÇÃO: 2001, FONTE: Spring Meeting of the European-Materials-Research-Society in MATERIALS SCIENCE IN SEMICONDUCTOR PROCESSING, VOLUME: 4, NÚMERO: 1-3
INDEXADO EM: Scopus WOS
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336
TÍTULO: Hydrogenated amorphous silicon / ZnO shottky heterojunction for position sensitive detectors
AUTORES: Aguas, H ; Nunes, P; Fortunato, E ; Silva, R; Silva, V; Figueiredo, J; Soares, F; Martins, R ;
PUBLICAÇÃO: 2001, FONTE: Amorphous and Heterogeneous Silicon Based Films 2001 in Materials Research Society Symposium - Proceedings, VOLUME: 664
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337
TÍTULO: Influence of the annealing conditions on the properties of ZnO thin films  Full Text
AUTORES: Nunes, P; Fortunato, E ; Martins, R ;
PUBLICAÇÃO: 2001, FONTE: Spring Meeting of the European-Materials-Research-Society in INTERNATIONAL JOURNAL OF INORGANIC MATERIALS, VOLUME: 3, NÚMERO: 8
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef
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338
TÍTULO: Influence of the deposition conditions on the gas sensitivity of zinc oxide thin films deposited by spray pyrolysis  Full Text
AUTORES: Nunes, P; Fortunato, E ; Lopes, A ; Martins, R ;
PUBLICAÇÃO: 2001, FONTE: Spring Meeting of the European-Materials-Research-Society in INTERNATIONAL JOURNAL OF INORGANIC MATERIALS, VOLUME: 3, NÚMERO: 8
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef
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339
TÍTULO: Influence of the post-treatment on the properties of ZnO thin films  Full Text
AUTORES: Nunes, P; Fortunato, E ; Martins, R ;
PUBLICAÇÃO: 2001, FONTE: 3rd Symposium O on Thin Film Materials for Large Area Electronics of the E-MRS 2000 Spring Meeting in THIN SOLID FILMS, VOLUME: 383, NÚMERO: 1-2
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340
TÍTULO: Influence of the process parameters on structural and electrical properties of r.f. magnetron sputtering ITO films  Full Text
AUTORES: Baia, I; Fernandes, B; Nunes, P; Quintela, M; Martins, R ;
PUBLICAÇÃO: 2001, FONTE: 3rd Symposium O on Thin Film Materials for Large Area Electronics of the E-MRS 2000 Spring Meeting in THIN SOLID FILMS, VOLUME: 383, NÚMERO: 1-2
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