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Andrei Kholkine
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R-000-1RA
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1983
1982
1981
1980
Order:
Ano Dsc
Ano Asc
Cit. WOS Dsc
IF WOS Dsc
Cit. Scopus Dsc
IF Scopus Dsc
Título Asc
Título Dsc
Results:
10
20
30
40
50
Publicações Confirmadas: 345
41
TÃTULO:
Structural and impedance spectroscopy analysis of Ba(Fe0.5Nb0.5)O3 -BaTiO3 ceramic system
Full Text
AUTORES:
Singh, NK; Kumar, P;
Rai, R
;
Kholkin, AL
;
PUBLICAÇÃO:
2012
,
FONTE:
Advanced Materials Letters,
VOLUME:
3,
NÚMERO:
4
INDEXADO EM:
Scopus
CrossRef
:
9
NO MEU:
ORCID
42
TÃTULO:
Structural depth profile and nanoscale piezoelectric properties of randomly oriented Pb(Zr0.50Ti0.50)O-3 thin films
Full Text
AUTORES:
Lima, EC
; Araujo, EB; Souza Filho, AG; Paschoal, AR;
Bdikin, IK
;
Kholkin, AL
;
PUBLICAÇÃO:
2012
,
FONTE:
JOURNAL OF PHYSICS D-APPLIED PHYSICS,
VOLUME:
45,
NÚMERO:
21
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
:
9
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
43
TÃTULO:
Structural, morphological and piezoresponse studies of Pr and Sc co-substituted BiFeO3 ceramics
Full Text
AUTORES:
Indrani Coondoo
;
Neeraj Panwar
;
Bdikin, I
;
Puli, VS
;
Katiyar, RS
;
Kholkin, AL
;
PUBLICAÇÃO:
2012
,
FONTE:
JOURNAL OF PHYSICS D-APPLIED PHYSICS,
VOLUME:
45,
NÚMERO:
5
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
:
47
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
44
TÃTULO:
The influence of Mn substitution on the local structure of Na0.5Bi0.5TiO3 crystals: Increased ferroelectric ordering and coexisting octahedral tilts
Full Text
AUTORES:
Jianjun J Yao;
Wenwei W Ge
; Li Yan;
William T Reynolds
; Jiefang F Li;
Viehland, D
;
Kiselev, DA
;
Kholkin, AL
; Qinhui H Zhang; Haosu S Luo;
PUBLICAÇÃO:
2012
,
FONTE:
JOURNAL OF APPLIED PHYSICS,
VOLUME:
111,
NÚMERO:
6
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
:
10
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
45
TÃTULO:
The self-polarization effect in Pb(Zr0.50Ti0.50)O-3 thin films with no preferential orientation
Full Text
AUTORES:
Lima, EC
; Araujo, EB;
Bdikin, IK
;
Kholkin, AL
;
PUBLICAÇÃO:
2012
,
FONTE:
MATERIALS RESEARCH BULLETIN,
VOLUME:
47,
NÚMERO:
11
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
:
11
NO MEU:
ORCID
46
TÃTULO:
Thickness dependence of structure and piezoelectric properties at nanoscale of polycrystalline PZT thin films
AUTORES:
Araujo, EB; Lima, EC;
Bdikin, IK
;
Kholkin, AL
;
PUBLICAÇÃO:
2012
,
FONTE:
2012 21st IEEE Int. Symp. on Applications of Ferroelectrics Held with 11th IEEE European Conf. on Applications of Polar Dielectrics and 4th IEEE Int. Symp on Piezoresponse Force Microscopy and Nanoscale Phenomena in Polar Materials, ISAF/ECAPD/PFM
in
Proceedings of 2012 21st IEEE Int. Symp. on Applications of Ferroelectrics held jointly with 11th IEEE European Conference on the Applications of Polar Dielectrics and IEEE PFM, ISAF/ECAPD/PFM 2012
INDEXADO EM:
Scopus
CrossRef
NO MEU:
ORCID
47
TÃTULO:
Comparison of structural and electric properties of PbZr0.2Ti0.8O3 and CoFe2O4/PbZr0.2Ti0.8O3 films on (100) LaAlO3
Full Text
AUTORES:
Zhang, XD
;
Joonghoe Dho
; Sungmin Park; Hyosang Kwon; Jihwan Hwang;
Gwangseo Park
; Daeyoung Kwon; Bongju Kim;
Yeryeong Jin
; Bog G Kim;
Karpinsky, D
;
Kholkin, AL
;
PUBLICAÇÃO:
2011
,
FONTE:
JOURNAL OF APPLIED PHYSICS,
VOLUME:
110,
NÚMERO:
6
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
:
3
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
48
TÃTULO:
Computational and experimental studies of size and shape related physical properties of hydroxyapatite nanoparticles
Full Text
AUTORES:
Bystrov, VS
;
Paramonova, E
;
Yu Dekhtyar
; Katashev, A;
Karlov, A
;
Polyaka, N
;
Bystrova, AV
; Patmalnieks, A;
Kholkin, AL
;
PUBLICAÇÃO:
2011
,
FONTE:
JOURNAL OF PHYSICS-CONDENSED MATTER,
VOLUME:
23,
NÚMERO:
6
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
:
19
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
49
TÃTULO:
Deposition of PZT thin film onto copper-coated polymer films by mean of pulsed-DC and RF-reactive sputtering
Full Text
AUTORES:
Suchaneck, G; Labitzke, R; Adolphi, B; Jastrabik, L; Adamek, P; Drahokoupil, J; Hubicka, Z; Kiselev, DA;
Kholkin, AL
; Gerlach, G; Dejneka, A;
PUBLICAÇÃO:
2011
,
FONTE:
12th International Conference on Plasma Surface Engineering
in
SURFACE & COATINGS TECHNOLOGY,
VOLUME:
205
INDEXADO EM:
WOS
CrossRef
NO MEU:
ResearcherID
50
TÃTULO:
Deposition of PZT thin film onto copper-coated polymer films by mean of pulsed-DC and RF-reactive sputtering
AUTORES:
Suchaneck, G;
Labitzke, R
;
Adolphi, B
; Jastrabik, L; Adamek, P;
Drahokoupil, J
; Hubicka, Z; Kiselev, DA;
Kholkin, AL
; Gerlach, G; Dejneka, A;
PUBLICAÇÃO:
2011
,
FONTE:
Surface and Coatings Technology,
VOLUME:
205,
NÚMERO:
SUPPL. 2
INDEXADO EM:
Scopus
NO MEU:
ORCID
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