1
TÍTULO: An equivalent doping profile for CMOS substrate characterization  Full Text
AUTORES: Henrique J Quaresma; Mendonca dos Santos, PM ; Cruz Serra, AC ;
PUBLICAÇÃO: 2013, FONTE: SOLID-STATE ELECTRONICS, VOLUME: 79
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2
TÍTULO: An Alternating Direction Algorithm for Total Variation Reconstruction of Distributed Parameters  Full Text
AUTORES: Nuno B Bras; Bioucas Dias, J ; Raul C Martins ; Serra, AC ;
PUBLICAÇÃO: 2012, FONTE: IEEE TRANSACTIONS ON IMAGE PROCESSING, VOLUME: 21, NÚMERO: 6
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3
TÍTULO: Bayesian and least-squares algorithms for estimating signal harmonics: A comparative study  Full Text
AUTORES: Kyriazis, GA; Ramos, PM ; Cruz C Serra ;
PUBLICAÇÃO: 2012, FONTE: MEASUREMENT, VOLUME: 45, NÚMERO: 9
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4
TÍTULO: Dynamic DAC testing by registering the input code when the DAC output matches a reference signal
AUTORES: Sekerak, M; Michaeli, L; Saliga, J; Cruz Serra, A ;
PUBLICAÇÃO: 2011, FONTE: IMEKO TC4 International Workshop on ADC Modelling, Testing and Data Converter Analysis and Design 2011, IWADC 2011 and IEEE 2011 ADC Forum in IMEKO TC4 International Workshop on ADC Modelling, Testing and Data Converter Analysis and Design 2011, IWADC 2011 and IEEE 2011 ADC Forum
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5
TÍTULO: Impact of temperature on substrate coupling in low-doped substrate  Full Text
AUTORES: Quaresma, HJ; dos Santos, PM ; Serra, AC ;
PUBLICAÇÃO: 2011, FONTE: ELECTRONICS LETTERS, VOLUME: 47, NÚMERO: 23
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6
TÍTULO: A Fast Forward Problem Solver for the Reconstruction of Biological Maps in Magnetic Induction Tomography
AUTORES: Nuno B Bras; Raul C Martins ; Serra, AC ; Lopes Ribeiro, AL ;
PUBLICAÇÃO: 2010, FONTE: IEEE TRANSACTIONS ON MAGNETICS, VOLUME: 46, NÚMERO: 5
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7
TÍTULO: Analytical design of dual-tone signal for ADC phase-plane testing  Full Text
AUTORES: Conceicao Libano Monteiro; Pasquale Arpaia; Antonio Cruz Serra ;
PUBLICAÇÃO: 2010, FONTE: MEASUREMENT, VOLUME: 43, NÚMERO: 3
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8
TÍTULO: Comparison between two digital methods for active power measurement
AUTORES: Correa Alegria, F ; Cruz Serra, A ;
PUBLICAÇÃO: 2010, FONTE: IEEE-ICIT 2010 International Conference on Industrial Technology, ICIT 2010 in Proceedings of the IEEE International Conference on Industrial Technology
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9
TÍTULO: Cross-Correlation and Sine-Fitting Techniques for High-Resolution Ultrasonic Ranging
AUTORES: Ricardo Queiros ; Francisco Correa Alegria ; Pedro Silva Girao ; Antonio Cruz Serra ;
PUBLICAÇÃO: 2010, FONTE: IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT, VOLUME: 59, NÚMERO: 12
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10
TÍTULO: Gaussian Jitter-Induced Bias of Sine Wave Amplitude Estimation Using Three-Parameter Sine Fitting
AUTORES: Francisco Correa Alegria ; Antonio Cruz Serra ;
PUBLICAÇÃO: 2010, FONTE: IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT, VOLUME: 59, NÚMERO: 9
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