António Manuel Cruz Serra


AuthID: R-000-28E

Publicações Confirmadas: 125



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TÍTULO: An FFT-based method to evaluate and compensate gain and offset errors of interleaved ADC systems
AUTORES: Pereira, JMD; Girao, PMBS; Serra, AMC ;
PUBLICAÇÃO: 2004, FONTE: IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT, VOLUME: 53, NÚMERO: 2
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef
72
TÍTULO: Analog-to-digital converter testing - new proposals  Full Text
AUTORES: Serra, AC ; Alegria, F ; Martins, R ; da Silva, MF;
PUBLICAÇÃO: 2004, FONTE: 4th International Conference on Advanced A/D and D/A Conversion Techniques/7th European Workshop on ADC Modelling and Testing in COMPUTER STANDARDS & INTERFACES, VOLUME: 26, NÚMERO: 1
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef
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73
TÍTULO: Automated methodology for modeling and measuring memoryless nonlinearities from the stochastic properties of a signal
AUTORES: Martins, RC ; Serra, AC ;
PUBLICAÇÃO: 2004, FONTE: 7th Africon Conference in Africa in 2004 IEEE AFRICON: 7TH AFRICON CONFERENCE IN AFRICA, VOLS 1 AND 2: TECHNOLOGY INNOVATION, VOLUME: 1
INDEXADO EM: Scopus WOS
NO MEU: ORCID
74
TÍTULO: Error in the estimation of transition voltages with the standard histogram test of ADCs  Full Text
AUTORES: Alegria, FC ; Serra, AC ;
PUBLICAÇÃO: 2004, FONTE: MEASUREMENT, VOLUME: 35, NÚMERO: 4
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef
NO MEU: ORCID
75
TÍTULO: Fast ADC testing by spectral and histogram analysis
AUTORES: Serra, AC ; Da Silva, MF; Ramos, P ; Michaeli, L; Saliga, J;
PUBLICAÇÃO: 2004, FONTE: Proceedings of the 21st IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference, IMTC/04 in Conference Record - IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference, VOLUME: 2
INDEXADO EM: Scopus
NO MEU: ORCID
76
TÍTULO: Least-squares fitting algorithms applied to periodic signals  Full Text
AUTORES: Da Silva, MF; Ramos, PM ; Martins, RC ; Serra, AC ;
PUBLICAÇÃO: 2004, FONTE: Proceedings of the 21st IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference, IMTC/04 in Conference Record - IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference, VOLUME: 3
INDEXADO EM: Scopus CrossRef
NO MEU: ORCID
77
TÍTULO: Low frequency impedance measurement using sine-fitting  Full Text
AUTORES: Ramos, PM ; da Silva, MF; Serra, AC ;
PUBLICAÇÃO: 2004, FONTE: MEASUREMENT, VOLUME: 35, NÚMERO: 1
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef
NO MEU: ORCID
78
TÍTULO: Overdrive in the standard histogram test of ADCs  Full Text
AUTORES: Alegria, FC ; Serra, AC ;
PUBLICAÇÃO: 2004, FONTE: MEASUREMENT, VOLUME: 35, NÚMERO: 4
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef
NO MEU: ORCID
79
TÍTULO: Performance of data acquisition systems from the user's point of view
AUTORES: Alegria, F ; Girao, P; Haasz, V; Serra, A ;
PUBLICAÇÃO: 2004, FONTE: 20th IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference in IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT, VOLUME: 53, NÚMERO: 4
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef
NO MEU: ORCID
80
TÍTULO: Phase-plane characterization of analog-to-digital converters
AUTORES: Monteiro, CL; Arpaia, P; Serra, AC ;
PUBLICAÇÃO: 2004, FONTE: Proceedings of the 21st IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference, IMTC/04 in Conference Record - IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference, VOLUME: 1
INDEXADO EM: Scopus
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