Eduardo Jorge da Costa Alves


AuthID: R-000-4EK

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421
TÍTULO: Optical studies on the red luminescence of InGaN epilayers  Full Text
AUTORES: Correia, MR ; Pereira, S ; Pereira, E; Ferreira, RAS ; Frandon, J; Alves, E ; Watson, IM; Liu, C; Morel, A; Gil, B;
PUBLICAÇÃO: 2004, FONTE: Meeting of the European-Materials-Research-Society in SUPERLATTICES AND MICROSTRUCTURES, VOLUME: 36, NÚMERO: 4-6
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef: 6
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422
TÍTULO: PAC studies of implanted Ag-111 in single-crystalline ZnO  Full Text
AUTORES: Rita, E; Correia, JG ; Wahl, U ; Alves, E ; Lopes, AML; Soares, JC ;
PUBLICAÇÃO: 2004, FONTE: Joint Meeting of the 13th International Conference on Hyperfine Interactions/17th International Symposium on Nuclear Quadrupole Interactions (HFI/NQI 2004) in HYPERFINE INTERACTIONS, VOLUME: 158, NÚMERO: 1-4
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef: 9
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423
TÍTULO: PL studies on ZnO single crystals implanted with thulium ions  Full Text
AUTORES: Peres, M; Wang, J; Soares, MJ ; Neves, A ; Monteiro, T ; Rita, E; Wahl, U ; Correia, JG ; Alves, E ;
PUBLICAÇÃO: 2004, FONTE: Spring Meeting of the European-Materials-Research-Society in SUPERLATTICES AND MICROSTRUCTURES, VOLUME: 36, NÚMERO: 4-6
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef: 14
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424
TÍTULO: Property change in ZrNxOy thin films: effect of the oxygen fraction and bias voltage  Full Text
AUTORES: Vaz, F ; Carvalho, P; Cunha, L ; Rebouta, L ; Moura, C ; Alves, E ; Ramos, AR ; Cavaleiro, A ; Goudeau, P; Riviere, JP;
PUBLICAÇÃO: 2004, FONTE: 31st International Conference on Metallurgical Coatings and Thin Films in THIN SOLID FILMS, VOLUME: 469, NÚMERO: SPEC. ISS.
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef: 52
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425
TÍTULO: RBS analysis of AlGaSb thin films  Full Text
AUTORES: Barradas, NP ; Alves, E ; Ruiz, CM; Dieguez, E; Dimroth, F; Chenot, MA; Bett, A;
PUBLICAÇÃO: 2004, FONTE: 16th International Conference on Ion Beam Analysis in NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS, VOLUME: 219, NÚMERO: 1-4
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426
TÍTULO: Recent emission channeling studies in wide band gap semiconductors  Full Text
AUTORES: Wahl, U ; Correia, JG ; Rita, E; Alves, E ; Soares, JC ; De Vries, B; Matias, V; Vantomme, A;
PUBLICAÇÃO: 2004, FONTE: Joint Meeting of the 13th International Conference on Hyperfine Interactions/17th International Symposium on Nuclear Quadrupole Interactions (HFI/NQI 2004) in HYPERFINE INTERACTIONS, VOLUME: 159, NÚMERO: 1-4
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef
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427
TÍTULO: Roughness in GaN/InGaN films and multilayers determined with Rutherford backscattering  Full Text
AUTORES: Barradas, NP ; Alves, E ; Pereira, S ; Shvartsman, VV; Kholkin, AL ; Pereira, E; O'Donnell, KP; Liu, C; Deatcher, CJ; Watson, IM; Mayer, M;
PUBLICAÇÃO: 2004, FONTE: NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS, VOLUME: 217, NÚMERO: 3
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef: 28
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428
TÍTULO: Stability and optical activity of Er implanted MgO  Full Text
AUTORES: Pinto, JV ; da Silva, RC; Alves, E ; Soares, MJ ; Monteiro, T ; Gonzalez, R;
PUBLICAÇÃO: 2004, FONTE: 12th International Conference on Radiation Effects in Insulators in NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS, VOLUME: 218, NÚMERO: 1-4
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef: 1
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429
TÍTULO: Structural and corrosion behaviour of stoichiometric and substoichiometric TiN thin films  Full Text
AUTORES: Rocha, LA ; Ariza, E ; Ferreira, J; Vaz, E ; Ribeiro, E; Rebouta, L ; Alves, E ; Ramos, AR ; Goudeau, P; Riviere, JP;
PUBLICAÇÃO: 2004, FONTE: Symposium on Protective Coatings and Thin Films held at the E-MRS 20th Spring Meeting in SURFACE & COATINGS TECHNOLOGY, VOLUME: 180
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430
TÍTULO: Structural, optical and mechanical properties of coloured TiNxOy thin films  Full Text
AUTORES: Vaz, F ; Cerqueira, P; Rebouta, L ; Nascimento, SMC; Alves, E ; Goudeau, P; Riviere, JR; Pischow, K; de Rijk, J;
PUBLICAÇÃO: 2004, FONTE: 30th International Conference on Metallurgical Coatings and Thin Films in THIN SOLID FILMS, VOLUME: 447
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