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José Filipe Vilela Vaz
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R-000-8B4
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1998
1997
1996
1995
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IF Scopus Dsc
Título Asc
Título Dsc
Results:
10
20
30
40
50
Publicações Confirmadas: 133
1
TÃTULO:
Electrical characterization of Ag:TiN thin films produced by glancing angle deposition
Full Text
AUTORES:
Pedrosa, P;
Lopes, C
; Martin, N;
Fonseca, C
;
Vaz, F
;
PUBLICAÇÃO:
2014
,
FONTE:
MATERIALS LETTERS,
VOLUME:
115
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
:
23
NO MEU:
ORCID
2
TÃTULO:
Development of a quasi-dry electrode for EEG recording
Full Text
AUTORES:
Mota, AR
;
Duarte, L
;
Rodrigues, D
;
Martins, AC
;
Machado, AV
;
Vaz, F
; Fiedler, P; Haueisen, J;
Nobrega, JM
;
Fonseca, C
;
PUBLICAÇÃO:
2013
,
FONTE:
SENSORS AND ACTUATORS A-PHYSICAL,
VOLUME:
199
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
:
83
NO MEU:
ORCID
3
TÃTULO:
Development of tantalum oxynitride thin films produced by PVD: Study of structural stability
Full Text
AUTORES:
Cristea, D; Crisan, A;
Barradas, NP
;
Alves, E
;
Moura, C
;
Vaz, F
;
Cunha, L
;
PUBLICAÇÃO:
2013
,
FONTE:
APPLIED SURFACE SCIENCE,
VOLUME:
285,
NÚMERO:
PARTA
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
4
TÃTULO:
Growth and size distribution of Au nanoparticles in annealed Au/TiO2 thin films
AUTORES:
Reymond Laruinaz, S; Saviot, L; Potin, V; Lopes, C;
Vaz, F
; Marco de Lucas, MC;
PUBLICAÇÃO:
2013
,
FONTE:
Thin Solid Films
INDEXADO EM:
Scopus
5
TÃTULO:
Influence of composition, bonding characteristics and microstructure on the electrochemical and optical stability of AlOxNy thin films
Full Text
AUTORES:
Borges, J
;
Fonseca, C
;
Barradas, NP
;
Alves, E
; Girardeau, T; Paumier, F;
Vaz, F
;
Marques, L
;
PUBLICAÇÃO:
2013
,
FONTE:
ELECTROCHIMICA ACTA,
VOLUME:
106
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
:
11
NO MEU:
ORCID
6
TÃTULO:
Influence of stoichiometry and structure on the optical properties of AlNxOy films
Full Text
AUTORES:
Borges, J
;
Barradas, NP
;
Alves, E
; Beaufort, MF;
Eyidi, D
;
Vaz, F
;
Marques, L
;
PUBLICAÇÃO:
2013
,
FONTE:
JOURNAL OF PHYSICS D-APPLIED PHYSICS,
VOLUME:
46,
NÚMERO:
1
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
7
TÃTULO:
Modulated IR Radiometry Applied to Study Coatings with Gold Nanocluster Inclusions
Full Text
AUTORES:
Vaz, F
;
Macedo, F
; Faria, RT;
Torrell, M
;
Cavaleiro, A
; Junge, KH;
Bein, BK
;
PUBLICAÇÃO:
2013
,
FONTE:
INTERNATIONAL JOURNAL OF THERMOPHYSICS,
VOLUME:
34,
NÚMERO:
8-9
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
:
3
NO MEU:
ORCID
8
TÃTULO:
Nanocomposite Ag:TiN thin films for dry biopotential electrodes
Full Text
AUTORES:
Pedrosa, P;
Machado, D
;
Lopes, C
;
Alves, E
;
Barradas, NP
; Martin, N;
Macedo, F
;
Fonseca, C
;
Vaz, F
;
PUBLICAÇÃO:
2013
,
FONTE:
APPLIED SURFACE SCIENCE,
VOLUME:
285,
NÚMERO:
PARTA
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
:
38
NO MEU:
ORCID
9
TÃTULO:
Novel Flexible Dry Multipin Electrodes for EEG: Signal Quality and Interfacial Impedance of Ti and TiN Coatings
AUTORES:
Fiedler, P;
Fonseca, C
; Pedrosa, P; Martins, A;
Vaz, F
; Griebel, S; Haueisen, J;
PUBLICAÇÃO:
2013
,
FONTE:
2013 35th Annual International Conference of the IEEE Engineering in Medicine and Biology Society, EMBC 2013
in
2013 35TH ANNUAL INTERNATIONAL CONFERENCE OF THE IEEE ENGINEERING IN MEDICINE AND BIOLOGY SOCIETY (EMBC)
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
10
TÃTULO:
Properties of tantalum oxynitride thin films produced by magnetron sputtering: The influence of processing parameters
Full Text
AUTORES:
Cristea, D; Constantin, D; Crisan, A;
Abreu, CS
;
Gomes, JR
;
Barradas, NP
;
Alves, E
;
Moura, C
;
Vaz, F
;
Cunha, L
;
PUBLICAÇÃO:
2013
,
FONTE:
VACUUM,
VOLUME:
98
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
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