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Eduardo Jorge da Costa Alves
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1984
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IF Scopus Dsc
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30
40
50
Publicações Confirmadas: 597
491
TÃTULO:
Strain and composition distributions in wurtzite InGaN/GaN layers extracted from x-ray reciprocal space mapping (vol 80, pg 3913, 2002)
Full Text
AUTORES:
Pereira, S
;
Correia, MR
;
Pereira, E
; O'Donnell, KP;
Alves, E
; Sequeira, AD;
Franco, N
;
Watson, IM
;
Deatcher, CJ
;
PUBLICAÇÃO:
2002
,
FONTE:
APPLIED PHYSICS LETTERS,
VOLUME:
81,
NÚMERO:
18
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
:
8
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
492
TÃTULO:
Strain relaxation and compositional analysis of InGaN/GaN layers by Rutherford backscattering
Full Text
AUTORES:
Alves, E
;
Pereira, S
;
Correia, MR
;
Pereira, E
; Sequeira, AD;
Franco, N
;
PUBLICAÇÃO:
2002
,
FONTE:
15th International Conference on Ion-Beam Analysis (IBA-15)
in
NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS,
VOLUME:
190,
NÚMERO:
1-4
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
:
8
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
493
TÃTULO:
Structural and optical characterization of topaz implanted with Fe and Co
Full Text
AUTORES:
Marques, C
;
Falcao, A
;
da Silva, RC
;
Alves, E
;
PUBLICAÇÃO:
2002
,
FONTE:
11th International Conference on Radiation Effects in Insulators
in
NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS,
VOLUME:
191,
NÚMERO:
1-4
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
494
TÃTULO:
Structural and optical properties of InGaN/GaN layers close to the critical layer thickness
Full Text
AUTORES:
Pereira, S
;
Correia, MR
;
Pereira, E
; Trager Cowan, C; Sweeney, F; O'Donnell, KP;
Alves, E
;
Franco, N
; Sequeira, AD;
PUBLICAÇÃO:
2002
,
FONTE:
APPLIED PHYSICS LETTERS,
VOLUME:
81,
NÚMERO:
7
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
:
85
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
495
TÃTULO:
Structural development in hard Si-based TIN coatings as a function of temperature: a comprehensive study in vacuum and in air
AUTORES:
Vaz, F
;
Rebouta, L
;
Carvalho, S
;
Rocha, LA
;
Soares, D
;
Alves, E
;
PUBLICAÇÃO:
2002
,
FONTE:
3rd International Symposium on Nitrides
in
NITRIDES AND OXYNITRIDES 2,
VOLUME:
383
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
:
2
NO MEU:
ORCID
496
TÃTULO:
Study of calcium implanted GaN
Full Text
AUTORES:
Alves, E
; Liu, C;
Lopes, EB
; da Silva, MF;
Soares, JC
;
Boemare, C
;
Soares, MJ
;
Monteiro, T
;
PUBLICAÇÃO:
2002
,
FONTE:
15th International Conference on Ion-Beam Analysis (IBA-15)
in
NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS,
VOLUME:
190,
NÚMERO:
1-4
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
:
4
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
497
TÃTULO:
Study of roughness in Ti0.4Al0.6N/Mo multilayer structures
Full Text
AUTORES:
Tavares, CJ
;
Rebouta, L
;
Alves, E
;
Barradas, NP
; Pacaud, J; Riviere, JP;
PUBLICAÇÃO:
2002
,
FONTE:
7th European Conference on Accelerators in Applied Research and Technology
in
NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS,
VOLUME:
188,
NÚMERO:
1-4
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
498
TÃTULO:
Surface quality studies of high-T-c superconductors of the Hg-, Tl- and HgxTl1-x-families: RBS and resonant C and O backscattering studies
Full Text
AUTORES:
Vantomme, A;
Alves, E
;
Correia, JG
; Bryntse, I; Johansson, LG; Loureiro, SM;
Le Floch, S
; Toulemonde, P; Bordet, P; Bougerol Chaillout, C;
PUBLICAÇÃO:
2002
,
FONTE:
15th International Conference on Ion-Beam Analysis (IBA-15)
in
NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS,
VOLUME:
190,
NÚMERO:
1-4
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
499
TÃTULO:
The structure of sapphire implanted with nitrogen at room temperature and 1000 degrees C
Full Text
AUTORES:
McHargue, C
; Ononye, LC; Allard, LF;
Alves, E
; da Silva, MF;
Soares, JC
;
PUBLICAÇÃO:
2002
,
FONTE:
11th International Conference on Radiation Effects in Insulators
in
NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS,
VOLUME:
191,
NÚMERO:
1-4
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
500
TÃTULO:
Amorphization of GaN by ion implantation
Full Text
AUTORES:
Liu, C; Wenzel, A; Rauschenbach, B;
Alves, E
; Sequeira, AD;
Franco, N
; da Silva, MF;
Soares, JC
; Fan, XJ;
PUBLICAÇÃO:
2001
,
FONTE:
E-MRS Spring Meeting on Materials Science with Ion Beams
in
NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS,
VOLUME:
178,
NÚMERO:
1-4
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
|
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