Elvira Maria Correia Fortunato


AuthID: R-000-4M5

Publicações Confirmadas: 508



361
TÍTULO: Role of the i layer surface properties on the performance of a-Si : H Schottky barrier photodiodes  Full Text
AUTORES: Aguas, H ; Fortunato, E ; Martins, R ;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: E-MARS Symposium on Materials in Microtechnologies and Microsystems in SENSORS AND ACTUATORS A-PHYSICAL, VOLUME: 99, NÚMERO: 1-2
INDEXADO EM: Scopus WOS
NO MEU: ORCID | ResearcherID
362
TÍTULO: Role of the i-layer thickness in the performance of a-Si : H Schottky barrier photodiodes
AUTORES: Aguas, H ; Fortunato, E ; Pereira, L ; Silva, V; Martins, R ;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: 1st International Materials Symposium (Materials 2001) in ADVANCED MATERIALS FORUM I, VOLUME: 230-2
INDEXADO EM: Scopus WOS
NO MEU: ORCID | ResearcherID
363
TÍTULO: Silicon nanostructure thin film materials  Full Text
AUTORES: Martins, R ; Aguas, H ; Silva, V; Ferreira, I ; Cabrita, A; Fortunato, E ;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: 4th Iberian Vacuum Meeting (IVM-4) in VACUUM, VOLUME: 64, NÚMERO: 3-4
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef
NO MEU: ORCID | ResearcherID
364
TÍTULO: Structural characterisation of zinc oxide thin films produced by spray pyrolysis
AUTORES: Nunes, P; Fernandes, FMB ; Silva, RJC ; Fortunato, E ; Martins, R ;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: 1st International Materials Symposium (Materials 2001) in ADVANCED MATERIALS FORUM I, VOLUME: 230-2
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef: 4
NO MEU: ORCID
365
TÍTULO: Study of the sensing mechanism of SnO(2) thin-film gas sensors using hall effect measurements
AUTORES: Lopes, A; Nunes, P; Vilarinho, P ; Monteiro, R ; Fortunato, E ; Martins, R ;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: 1st International Materials Symposium (Materials 2001) in ADVANCED MATERIALS FORUM I, VOLUME: 230-2
INDEXADO EM: Scopus WOS
NO MEU: ORCID | ResearcherID
366
TÍTULO: The properties of a-Si : H films deposited on Mylar substrates by hot-wire plasma assisted technique  Full Text
AUTORES: Ferreira, I ; Fortunato, E ; Pereira, L ; Elisabete, M ; Costa, V; Martins, R ;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: 19th International Conference on Amorphous and Microcrystalline Semiconductors (ICAMS 19) in JOURNAL OF NON-CRYSTALLINE SOLIDS, VOLUME: 299, NÚMERO: PART 1
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef
NO MEU: ORCID | ResearcherID
367
TÍTULO: Transparent, conductive ZnO : Al thin film deposited on polymer substrates by RF magnetron sputtering  Full Text
AUTORES: Fortunato, E ; Nunes, P; Marques, A; Costa, D; Aguas, H ; Ferreira, I ; Costa, MEV ; Godinho, MH ; Almeida, PL ; Borges, JP ; Martins, R ;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: Spring Meeting of the European-Materials-Research-Society in SURFACE & COATINGS TECHNOLOGY, VOLUME: 151
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef: 47
NO MEU: ORCID | ResearcherID
368
TÍTULO: Application of amorphous silicon thin-film position-sensitive detector to optical rules  Full Text
AUTORES: Martins, R ; Teodoro, P; Soares, F; Ferreira, I; Guimaraes, N; Fortunato, E ; Borges, J; Jose, G; Groth, A; Schultze, L; Berndt, D; Reichel, F; Stam, F;
PUBLICAÇÃO: 2001, FONTE: ADVANCED ENGINEERING MATERIALS, VOLUME: 3, NÚMERO: 3
INDEXADO EM: WOS
NO MEU: ResearcherID
369
TÍTULO: Characterization of zinc oxide thin films deposited by rf magnetron sputtering on Mylar substrates
AUTORES: Fortunato, E ; Nunes, P; Marques, A; Costa, D; Aguas, H ; Ferreira, I ; Costa, MEV ; Martins, R ;
PUBLICAÇÃO: 2001, FONTE: Transport and Microstructural Phenomena in Oxide Electronics in Materials Research Society Symposium - Proceedings, VOLUME: 666
INDEXADO EM: Scopus
NO MEU: ORCID
370
TÍTULO: Correlation between a-Si : H surface oxidation process and the performance of MIS structures  Full Text
AUTORES: Aguas, H ; Nunes, Y ; Fortunato, E ; Gordo, P; Maneira, M; Martins, R ;
PUBLICAÇÃO: 2001, FONTE: 3rd Symposium O on Thin Film Materials for Large Area Electronics of the E-MRS 2000 Spring Meeting in THIN SOLID FILMS, VOLUME: 383, NÚMERO: 1-2
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef
NO MEU: ORCID | ResearcherID
Página 37 de 51. Total de resultados: 508.

Um espaço para investigadores e suas Instituições

Links Úteis

Ajuda

© 2024 CRACS & Inesc TEC - All Rights Reserved Política de Privacidade | Terms of Service