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Fernando Manuel Tim Tim Janeiro
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R-000-52M
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Proceedings Paper (19)
Article (15)
Year Start - End:
1999
2000
2001
2002
2003
2004
2005
2006
2007
2008
2009
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2007
2006
2005
2004
2003
2002
2001
2000
1999
Order:
Ano Dsc
Ano Asc
Cit. WOS Dsc
IF WOS Dsc
Cit. Scopus Dsc
IF Scopus Dsc
Título Asc
Título Dsc
Results:
10
20
30
40
50
Publicações Confirmadas: 34
11
TÃTULO:
Developments of low-cost procedure to estimate cloud base height based on a digital camera
Full Text
AUTORES:
Fernando M Janeiro
;
Pedro M Ramos
;
Frank Wagner
;
Silva, AM
;
PUBLICAÇÃO:
2010
,
FONTE:
19th IMEKO World Congress
in
MEASUREMENT,
VOLUME:
43,
NÚMERO:
5
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
12
TÃTULO:
Impedance Spectroscopy of a Vibrating Wire for Viscosity Measurements
Full Text
AUTORES:
Janeiro, FM
;
Ramos, PM
;
Fareleira, JMNA
; Diogo, JCF; Maximo, DRC;
Caetano, FJP
;
PUBLICAÇÃO:
2010
,
FONTE:
International Instrumentation and Measurement Technology Conference (I2MTC)
in
2010 IEEE INTERNATIONAL INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT TECHNOLOGY CONFERENCE I2MTC 2010, PROCEEDINGS
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
Handle
NO MEU:
ORCID
13
TÃTULO:
Sine-fitting algorithms implemented in 32-bit floating point systems
AUTORES:
Ramos, PM
;
Radil, T
;
Janeiro, FM
;
PUBLICAÇÃO:
2010
,
FONTE:
17th Symposium IMEKO TC4 - Measurement of Electrical Quantities, 15th International Workshop on ADC Modelling and Testing, and 3rd Symposium IMEKO TC19 - Environmental Measurements
in
17th Symposium IMEKO TC4 - Measurement of Electrical Quantities, 15th International Workshop on ADC Modelling and Testing, and 3rd Symposium IMEKO TC19 - Environmental Measurements
INDEXADO EM:
Scopus
NO MEU:
ORCID
14
TÃTULO:
Uncertainty analysis of a cloud base height measurement system based on digital photography
AUTORES:
Janeiro, FM
;
Wagner, F
;
Ramos, PM
;
Silva, AM
;
PUBLICAÇÃO:
2010
,
FONTE:
17th Symposium IMEKO TC4 - Measurement of Electrical Quantities, 15th International Workshop on ADC Modelling and Testing, and 3rd Symposium IMEKO TC19 - Environmental Measurements
in
17th Symposium IMEKO TC4 - Measurement of Electrical Quantities, 15th International Workshop on ADC Modelling and Testing, and 3rd Symposium IMEKO TC19 - Environmental Measurements
INDEXADO EM:
Scopus
NO MEU:
ORCID
15
TÃTULO:
Application of Genetic Algorithms for Estimation of Impedance Parameters of Two-Terminal Networks
Full Text
AUTORES:
Fernando M Janeiro
;
Pedro M Ramos
;
PUBLICAÇÃO:
2009
,
FONTE:
26th IEEE International Instrumentation and Measurement Technology Conference
in
I2MTC: 2009 IEEE INSTRUMENTATION & MEASUREMENT TECHNOLOGY CONFERENCE, VOLS 1-3
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
16
TÃTULO:
CLOUD BASE HEIGHT ESTIMATION USING A LOW-COST DIGITAL CAMERA
AUTORES:
Fernando M Janeiro
;
Frank Wagner
;
Pedro M Ramos
;
Silva, AM
;
PUBLICAÇÃO:
2009
,
FONTE:
19th IMEKO World Congress
in
XIX IMEKO WORLD CONGRESS: FUNDAMENTAL AND APPLIED METROLOGY, PROCEEDINGS,
VOLUME:
3
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
NO MEU:
ORCID
17
TÃTULO:
Comparison of impedance measurements in a DSP using ellipse-fit and seven-parameter sine-fit algorithms
Full Text
AUTORES:
Pedro M Ramos
;
Fernando M Janeiro
;
Tomas Radil
;
PUBLICAÇÃO:
2009
,
FONTE:
MEASUREMENT,
VOLUME:
42,
NÚMERO:
9
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
18
TÃTULO:
Impedance Measurements Using Genetic Algorithms and Multiharmonic Signals
AUTORES:
Fernando M Janeiro
;
Pedro M Ramos
;
PUBLICAÇÃO:
2009
,
FONTE:
IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT,
VOLUME:
58,
NÚMERO:
2
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
19
TÃTULO:
PERFORMANCE COMPARISON OF THREE ALGORITHMS FOR TWO-CHANNEL SINEWAVE PARAMETER ESTIMATION: SEVEN PARAMETER SINE FIT, ELLIPSE FIT, SPECTRAL SINC FIT
AUTORES:
Pedro M Ramos
;
Fernando M Janeiro
;
Tomas Radil
;
PUBLICAÇÃO:
2009
,
FONTE:
19th IMEKO World Congress
in
XIX IMEKO WORLD CONGRESS: FUNDAMENTAL AND APPLIED METROLOGY, PROCEEDINGS,
VOLUME:
1
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
NO MEU:
ORCID
20
TÃTULO:
Recent Developments on Impedance Measurements With DSP-Based Ellipse-Fitting Algorithms
AUTORES:
Pedro M Ramos
;
Fernando M Janeiro
;
Mouhaydine Tlemcani
;
Cruz C Serra
;
PUBLICAÇÃO:
2009
,
FONTE:
IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT,
VOLUME:
58,
NÚMERO:
5
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
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