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Helena Maria dos Santos Geirinhas Ramos
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R-000-5TB
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Proceedings Paper (112)
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IF WOS Dsc
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IF Scopus Dsc
Título Asc
Título Dsc
Results:
10
20
30
40
50
Publicações Confirmadas: 158
81
TÃTULO:
Measuring interface for an ECT System
AUTORES:
Helena Geirinhas Ramos
;
Artur Lopes Ribeiro
;
Michal Kubinyi
;
PUBLICAÇÃO:
2011
,
FONTE:
PRZEGLAD ELEKTROTECHNICZNY,
VOLUME:
87,
NÚMERO:
7
INDEXADO EM:
WOS
NO MEU:
ORCID
82
TÃTULO:
Measuring interface for an ECT system [Interfejs pomiarowy w systemie wykorzystuja{ogonek}cym pra{ogonek}dy wirowe]
AUTORES:
Ramos, HG
;
Ribeiro, AL
;
Kubinyi, M
;
PUBLICAÇÃO:
2011
,
FONTE:
Przeglad Elektrotechniczny,
VOLUME:
87,
NÚMERO:
7
INDEXADO EM:
Scopus
NO MEU:
ORCID
83
TÃTULO:
Modeling eddy current inspection of a metallic sample with round hole defects
AUTORES:
Ramos, HG
;
Ribeiro, AL
; Posadas, D;
Rocha, T
;
PUBLICAÇÃO:
2011
,
FONTE:
18th IMEKO TC4 Symposium on Measurement of Electrical Quantities 2011, Part of Metrologia 2011
in
18th IMEKO TC4 Symposium on Measurement of Electrical Quantities 2011, Part of Metrologia 2011
INDEXADO EM:
Scopus
84
TÃTULO:
Portable eddy current NDT instrument using two different implementations
AUTORES:
Pasadas, D
;
Rocha, T
;
Ramos, H
;
Ribeiro, AL
;
PUBLICAÇÃO:
2011
,
FONTE:
International Conference on Computer as a Tool, EUROCON 2011 - Joint with Conftele 2011
in
EUROCON 2011 - International Conference on Computer as a Tool - Joint with Conftele 2011
INDEXADO EM:
Scopus
CrossRef
NO MEU:
ORCID
85
TÃTULO:
Thickness measurement of a nonmagnetic metallic plate using harmonic eddy current excitation and a GMR sensor
AUTORES:
Ribeiro, AL
;
Ramos, HG
; Arez, JC;
PUBLICAÇÃO:
2011
,
FONTE:
18th IMEKO TC4 Symposium on Measurement of Electrical Quantities 2011, Part of Metrologia 2011
in
18th IMEKO TC4 Symposium on Measurement of Electrical Quantities 2011, Part of Metrologia 2011
INDEXADO EM:
Scopus
86
TÃTULO:
Thickness Measurement Using Transient Eddy Current Techniques
Full Text
AUTORES:
Kral, J
; Smid, R;
Geirnhas Ramos, HMG
;
Lopes Ribeiro, AL
;
PUBLICAÇÃO:
2011
,
FONTE:
IEEE International Instrumentation and Measurement Technology Conference (I2MTC)
in
2011 IEEE INTERNATIONAL INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT TECHNOLOGY CONFERENCE (I2MTC)
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
87
TÃTULO:
Eddy Current Image Normalization in NDT of Aluminum Plates
Full Text
AUTORES:
Luka Kufrin
;
Lopes Ribeiro, AL
;
Ramos, HG
;
PUBLICAÇÃO:
2010
,
FONTE:
International Instrumentation and Measurement Technology Conference (I2MTC)
in
2010 IEEE INTERNATIONAL INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT TECHNOLOGY CONFERENCE I2MTC 2010, PROCEEDINGS
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
88
TÃTULO:
Eddy current image normalization in non-destructive testing
AUTORES:
Kufrin, L;
Ribeiro, AL
;
Ramos, HMG
;
PUBLICAÇÃO:
2010
,
FONTE:
7th International Conference on Condition Monitoring and Machinery Failure Prevention Technologies 2010, CM 2010/MFPT 2010
in
7th International Conference on Condition Monitoring and Machinery Failure Prevention Technologies 2010, CM 2010/MFPT 2010,
VOLUME:
2
INDEXADO EM:
Scopus
89
TÃTULO:
Experiment and simulation of the eddy current NDT on an aluminium plate using a uniform field probe
AUTORES:
Kufrin, L
;
Ribeiro, AL
;
Ramos, HG
;
Postolache, O
;
PUBLICAÇÃO:
2010
,
FONTE:
17th Symposium IMEKO TC4 - Measurement of Electrical Quantities, 15th International Workshop on ADC Modelling and Testing, and 3rd Symposium IMEKO TC19 - Environmental Measurements
in
17th Symposium IMEKO TC4 - Measurement of Electrical Quantities, 15th International Workshop on ADC Modelling and Testing, and 3rd Symposium IMEKO TC19 - Environmental Measurements
INDEXADO EM:
Scopus
NO MEU:
ORCID
90
TÃTULO:
Image Analysis for Crack Detection
Full Text
AUTORES:
Luka Kufrin
;
Postolache, O
;
Lopes L Ribeiro
;
Geirinhas M G Ramos
;
PUBLICAÇÃO:
2010
,
FONTE:
International Instrumentation and Measurement Technology Conference (I2MTC)
in
2010 IEEE INTERNATIONAL INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT TECHNOLOGY CONFERENCE I2MTC 2010, PROCEEDINGS
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
:
3
NO MEU:
ORCID
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