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Santosh Pandey
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R-00K-869
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Article (36)
Proceedings Paper (17)
Review (2)
Editorial Material (1)
Abstract (1)
Year Start - End:
1998
1999
2000
2001
2002
2003
2004
2005
2006
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2005
2004
2003
2002
2001
2000
1999
1998
Order:
Ano Dsc
Ano Asc
Cit. WOS Dsc
IF WOS Dsc
Cit. Scopus Dsc
IF Scopus Dsc
Título Asc
Título Dsc
Results:
10
20
30
40
50
Publicações Confirmadas: 57
51
TÃTULO:
Characterization of a MEMS BioChip for planar patch-clamp recording
AUTORES:
Santosh Pandey
; Rajiv Mehrotra;
Sherri Wykosky
; Marvin H White;
PUBLICAÇÃO:
2003
,
FONTE:
2003 International Semiconductor Device Research Symposium, ISDRS 2003 - Proceedings
INDEXADO EM:
Scopus
CrossRef
NO MEU:
ORCID
52
TÃTULO:
A planar MEMS bio-chip for recording ion-channel currents in biological cells
AUTORES:
Santosh Pandey
; Zannatul Ferdous; Marvin H White;
PUBLICAÇÃO:
2002
,
FONTE:
Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering,
VOLUME:
5062,
NÚMERO:
2
INDEXADO EM:
Scopus
Unpaywall
NO MEU:
ORCID
53
TÃTULO:
Parameter-extraction of a two-compartment model for whole-cell data analysis
Full Text
AUTORES:
Santosh Pandey
; White, MH;
PUBLICAÇÃO:
2002
,
FONTE:
JOURNAL OF NEUROSCIENCE METHODS,
VOLUME:
120,
NÚMERO:
2
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
:
2
Unpaywall
NO MEU:
ORCID
54
TÃTULO:
An integrated planar patch-clamp system
AUTORES:
Santosh Pandey
; White, MH;
PUBLICAÇÃO:
2001
,
FONTE:
2001 INTERNATIONAL SEMICONDUCTOR DEVICE RESEARCH SYMPOSIUM, PROCEEDINGS
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
:
4
NO MEU:
ORCID
55
TÃTULO:
A simple model for an Electrolyte-Oxide-Semiconductor pH sensor
AUTORES:
Santosh Pandey
; Kal, S; Lahiri, SK;
PUBLICAÇÃO:
2000
,
FONTE:
PROCEEDING OF THE TENTH INTERNATIONAL WORKSHOP ON THE PHYSICS OF SEMICONDUCTOR DEVICES, VOLS I AND II,
VOLUME:
3975
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
NO MEU:
ORCID
56
TÃTULO:
A simple model for extraction of interface state density of a Schottky barrier diode using reverse bias C-V plots
Full Text
AUTORES:
Santosh Pandey
; Kal, S;
PUBLICAÇÃO:
2000
,
FONTE:
INTERNATIONAL JOURNAL OF ELECTRONICS,
VOLUME:
87,
NÚMERO:
2
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
Unpaywall
NO MEU:
ORCID
57
TÃTULO:
A simple approach to the capacitance technique for determination of interface state density of a metal-semiconductor contact
AUTORES:
Santosh Pandey
; Kal, S;
PUBLICAÇÃO:
1998
,
FONTE:
SOLID-STATE ELECTRONICS,
VOLUME:
42,
NÚMERO:
6
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
:
75
NO MEU:
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