José Alberto Peixoto Machado da Silva


AuthID: R-000-7Z3

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TÍTULO: A method for the in-circuit testing of σδ modulators
AUTORES: Da Silva, JM ; Duarte, JS; Matos, JS;
PUBLICAÇÃO: 2001, FONTE: 11th IMEKO TC4 Symposium on Trends in Electrical Measurements and Instrumentation and 6th IMEKO TC4 Workshop on ADC Modelling and Testing 2001 in 11th IMEKO TC4 Symposium on Trends in Electrical Measurements and Instrumentation and 6th IMEKO TC4 Workshop on ADC Modelling and Testing 2001
INDEXADO EM: Scopus
NO MEU: ORCID
72
TÍTULO: ADC testing using joint time-frequency analysis
AUTORES: Hélio Sousa Mendonça; José Machado da Silva ; José Silva Matos;
PUBLICAÇÃO: 2001, FONTE: Comput. Stand. Interfaces, VOLUME: 23, NÚMERO: 2
INDEXADO EM: DBLP
NO MEU: DBLP
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TÍTULO: ADC testing using joint time-frequency analysis  Full Text
AUTORES: Mendonca, H ; da Silva, JM ; Matos, JS ;
PUBLICAÇÃO: 2001, FONTE: COMPUTER STANDARDS & INTERFACES, VOLUME: 23, NÚMERO: 2
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef: 1
NO MEU: ORCID
74
TÍTULO: Differential gain and phase testing using joint time-frequency analysis
AUTORES: Mendonca, HS ; Silva, JM ; Matos, JS;
PUBLICAÇÃO: 2001, FONTE: 18th IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference (IMTC/2001) in IMTC/2001: PROCEEDINGS OF THE 18TH IEEE INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT TECHNOLOGY CONFERENCE, VOLS 1-3: REDISCOVERING MEASUREMENT IN THE AGE OF INFORMATICS, VOLUME: 3
INDEXADO EM: Scopus WOS
NO MEU: ORCID
75
TÍTULO: DYNAD: a Framework IVSMT project addressed to the development of dynamic test techniques for analog-to-digital converters  Full Text
AUTORES: Morandi, C; Chiorboli, G; Dallet, D; Haddadi, D; Mazzoleni, S; da Silva, JM ; Pernull, H; Roy, PY;
PUBLICAÇÃO: 2000, FONTE: COMPUTER STANDARDS & INTERFACES, VOLUME: 22, NÚMERO: 2
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef: 4
NO MEU: ORCID
76
TÍTULO: Mixed-Signal BIST Using Correlation and Reconfigurable Hardware
AUTORES: José Machado da Silva ; Soeiro S Duarte; José Silva Matos ;
PUBLICAÇÃO: 2000, FONTE: Design, Automation and Test in Europe Conference and Exhibition 2000, DATE 2000 in 2000 Design, Automation and Test in Europe (DATE 2000), 27-30 March 2000, Paris, France
INDEXADO EM: Scopus DBLP CrossRef
NO MEU: DBLP
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TÍTULO: ADC testing using joint time-frequency analysis
AUTORES: Mendonca, HS ; Silva, JM ; Matos, JS ;
PUBLICAÇÃO: 1999, FONTE: 3rd International Conference on Advanced A/D and D/A Conversion Techniques and their Applications in THIRD INTERNATIONAL CONFERENCE ON ADVANCED A/D AND D/A CONVERSION TECHNIQUES AND THEIR APPLICATIONS, NÚMERO: 466
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef: 1
NO MEU: ORCID
78
TÍTULO: Mixed-Signal Board Level DfT Techniques Using IEEE P1149.4
AUTORES: José Silva Matos; José Machado da Silva ;
PUBLICAÇÃO: 1998, FONTE: 5th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems, ICECS 1998, Surfing the Waves of Science and Technology, Lisbon, Portugal, September 7-10, 1998
INDEXADO EM: DBLP
NO MEU: DBLP
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TÍTULO: Mixed-signal board level DfT techniques using IEEE P1149.4
AUTORES: Matos Jose, S; da Silva Jose Machado ;
PUBLICAÇÃO: 1998, FONTE: Proceedings of the 1998 5th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems (ICECS'98) - Surfing the Waves of Science and Technology in Proceedings of the IEEE International Conference on Electronics, Circuits, and Systems, VOLUME: 2
INDEXADO EM: Scopus
NO MEU: ORCID
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