José Carvalho Soares


AuthID: R-000-886

Publicações Confirmadas: 277



211
TÍTULO: Incorporation and stability of erbium in sapphire by ion implantation  Full Text
AUTORES: Alves, E ; daSilva, MF; vandenHoven, GN; Polman, A; Melo, AA; Soares, JC ;
PUBLICAÇÃO: 1995, FONTE: 9th International Conference on Ion Beam Modification of Materials (IBMM 95) in NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS, VOLUME: 106, NÚMERO: 1-4
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef
NO MEU: ORCID
212
TÍTULO: ION-BEAM CHANNELING CHARACTERIZATION OF LINBO3 - INTERACTION BETWEEN IMPURITY SITES  Full Text
AUTORES: REBOUTA, L ; DASILVA, MF; SOARES, JC ; SANTOS, MT; DIEGUEZ, E; AGULLOLOPEZ, F;
PUBLICAÇÃO: 1995, FONTE: Symposium on Photorefractive Materials, at the E-MRS 1994 Spring Meeting in OPTICAL MATERIALS, VOLUME: 4, NÚMERO: 2-3
INDEXADO EM: Scopus WOS
NO MEU: ORCID
213
TÍTULO: Ion-beam/channeling characterization of LiNbO3: interaction between impurity sites
AUTORES: Rebouta, L; Da Silva, MF; Soares, JC ; Santos, MT; Dieguez, E; Agullo Lopez, F;
PUBLICAÇÃO: 1995, FONTE: Proceedings of the 1994 7th Europhysical Conference on Defects in Insulating Materials, Eurodim 94. Part 2 (of 3) in Radiation Effects and Defects in Solids, VOLUME: 136, NÚMERO: 1 -4 pt 3
INDEXADO EM: Scopus
214
TÍTULO: Optoelectronic properties of high-gap amorphous silicon-carbon alloys
AUTORES: Chu, V; Conde, JP ; Brogueira, P ; Micaelo, P; Jarego, JP; da Silva, MF; Soares, JC ;
PUBLICAÇÃO: 1995, FONTE: Proceedings of the 1995 MRS Spring Meeting in Materials Research Society Symposium - Proceedings, VOLUME: 377
INDEXADO EM: Scopus
NO MEU: ORCID
215
TÍTULO: Structure study of the Hg1-xCdxTe VPE layers grown on CdTe MOCVD substrates
AUTORES: Sochinskii, NV; Dieguez, E; Bernardi, S; Soares, JC ; Franzosi, P;
PUBLICAÇÃO: 1995, FONTE: Proceedings of the 3rd European Workshop on II-VI Compounds in Materials Science Forum, VOLUME: 182-184
INDEXADO EM: Scopus
NO MEU: ORCID
216
TÍTULO: The substitutionality of hafnium in sapphire by ion implantation and low temperature annealing  Full Text
AUTORES: Marques, JG ; Melo, AA; Soares, JC ; Alves, E ; daSilva, MF; Freitag, K;
PUBLICAÇÃO: 1995, FONTE: 9th International Conference on Ion Beam Modification of Materials (IBMM 95) in NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS, VOLUME: 106, NÚMERO: 1-4
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef
NO MEU: ORCID
217
TÍTULO: TRANSPORT AND PHOTOLUMINESCENCE OF HYDROGENATED AMORPHOUS SILICON-CARBON ALLOYS  Full Text
AUTORES: CHU, V ; CONDE, JP ; JAREGO, J; BROGUEIRA, P ; RODRIGUEZ, J; BARRADAS, N ; SOARES, JC ;
PUBLICAÇÃO: 1995, FONTE: JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, VOLUME: 78, NÚMERO: 5
INDEXADO EM: Scopus WOS
218
TÍTULO: A COMPARATIVE-STUDY OF CO-RE SUPERLATTICES SPUTTERED ON GLASS AND SI SUBSTRATES BY GRAZING ANGLE OF INCIDENCE RBS, HRTEM, PAC, MAGNETIC AND TRANSPORT-PROPERTIES STUDIES  Full Text
AUTORES: BARRADAS, NP ; LEAL, JL; SOARES, JC ; DASILVA, MF; FREITAS, PP ; ROTS, M; MOLINA, SI; GARCIA, R;
PUBLICAÇÃO: 1994, FONTE: 11th International Conference on Ion Beam Analysis (IBA-11) in NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS, VOLUME: 85, NÚMERO: 1-4
INDEXADO EM: Scopus WOS
NO MEU: ORCID
219
TÍTULO: HYPERFINE FIELDS OF MERCURY IN SINGLE-CRYSTALLINE COBALT  Full Text
AUTORES: MARQUES, JG ; CORREIA, JG ; MELO, AA; SOARES, JC ; ALVES, E ; DASILVA, MF;
PUBLICAÇÃO: 1994, FONTE: 6th Joint Magnetism and Magnetic Materials-Intermag Conference in JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, VOLUME: 76, NÚMERO: 10
INDEXADO EM: Scopus WOS
220
TÍTULO: Iridium silicide formation by rapid thermal annealing
AUTORES: Rodriguez, T; Wolters, H; Almendra, A; Sanz Maudes, J; Da Silva, MF; Soares, JC ;
PUBLICAÇÃO: 1994, FONTE: Proceedings of the 1993 Spring Meeting of the Materials Research Society in Materials Research Society Symposium Proceedings, VOLUME: 299
INDEXADO EM: Scopus
NO MEU: ORCID
Página 22 de 28. Total de resultados: 277.

Um espaço para investigadores e suas Instituições

Links Úteis

Ajuda

© 2024 CRACS & Inesc TEC - All Rights Reserved Política de Privacidade | Terms of Service