Luís Miguel de Almeida Amaral


AuthID: R-000-9Q1

Publicações Confirmadas: 7



1
TÍTULO: Constrained sintering of BaLa4Ti4O15 thick films: Pore and grain anisotropy
AUTORES: Amaral, L ; Jamin, C; Senos, AMR ; Vilarinho, PM ; Guillon, O;
PUBLICAÇÃO: 2013, FONTE: JOURNAL OF THE EUROPEAN CERAMIC SOCIETY, VOLUME: 33, NÚMERO: 10
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef Handle
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2
TÍTULO: Physics of Electrolytic Gas Evolution
AUTORES: Sequeira, CAC ; Santos, DMF ; Sljukic, B ; Amaral, L ;
PUBLICAÇÃO: 2013, FONTE: BRAZILIAN JOURNAL OF PHYSICS, VOLUME: 43, NÚMERO: 3
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef
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3
TÍTULO: Effect of the Substrate on the Constrained Sintering of BaLa4Ti4O15 Thick Films  Full Text
AUTORES: Luis Amaral ; Christine Jamin; Ana M R Senos ; Paula M Vilarinho ; Olivier Guillon;
PUBLICAÇÃO: 2012, FONTE: JOURNAL OF THE AMERICAN CERAMIC SOCIETY, VOLUME: 95, NÚMERO: 12
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef: 11
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4
TÍTULO: Photoluminescence of SrTiO3: Influence of Particle Size and Morphology  Full Text
AUTORES: Souza, AE; Santos, GTA; Barra, BC; Macedo, WD; Teixeira, SR; Santos, CM; Senos, AMOR ; Amaral, L ; Longo, E;
PUBLICAÇÃO: 2012, FONTE: CRYSTAL GROWTH & DESIGN, VOLUME: 12, NÚMERO: 11
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef: 66
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5
TÍTULO: Stress assisted grain growth and dielectric properties of BaLa 4Ti4O15 thick films
AUTORES: Amaral, L ; Senos, AMR ; Jamin, C; Guillon, O; Vilarinho, PM ;
PUBLICAÇÃO: 2012, FONTE: 8th International Conference and Exhibition on Ceramic Interconnect and Ceramic Microsystems Technologies, CICMT 2012 in Proceedings - IMAPS/ACerS 8th International Conference and Exhibition on Ceramic Interconnect and Ceramic Microsystems Technologies, CICMT 2012
INDEXADO EM: Scopus
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6
TÍTULO: Sintering kinetic studies in nonstoichiometric strontium titanate ceramics  Full Text
AUTORES: Luis Amaral ; Ana M R Senos ; Paula M Vilarinho ;
PUBLICAÇÃO: 2009, FONTE: MATERIALS RESEARCH BULLETIN, VOLUME: 44, NÚMERO: 2
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef: 21
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7
TÍTULO: Nonstoichiometry Effects in SrTiO3 Ceramics Assessed by Transmission Electron Microscopy
AUTORES: Amaral, L ; Senos, AMR ; Vilarinho, PM ;
PUBLICAÇÃO: 2008, FONTE: MICROSCOPY AND MICROANALYSIS, VOLUME: 14, NÚMERO: SUPPL. 3
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef: 1
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