Marco Paulo Seabra dos Reis
AuthID: R-000-ABV
91
TÃTULO: Optimal Selection of Time Resolution for Batch Data Analysis. Part I: Predictive Modeling
AUTORES: Rato, TJ; Reis, MS;
PUBLICAÇÃO: 2018, FONTE: AICHE JOURNAL, VOLUME: 64, NÚMERO: 11
AUTORES: Rato, TJ; Reis, MS;
PUBLICAÇÃO: 2018, FONTE: AICHE JOURNAL, VOLUME: 64, NÚMERO: 11
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TÃTULO: Assessing the Value of Information of Data-Centric Activities in the Chemical Processing Industry 4.0
AUTORES: Reis, MS; Kenett, R;
PUBLICAÇÃO: 2018, FONTE: AICHE JOURNAL, VOLUME: 64, NÚMERO: 11
AUTORES: Reis, MS; Kenett, R;
PUBLICAÇÃO: 2018, FONTE: AICHE JOURNAL, VOLUME: 64, NÚMERO: 11
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TÃTULO: A Systematic Framework for Assessing the Quality of Information in Data-Driven Applications for the Industry 4.0
AUTORES: Reis, MS;
PUBLICAÇÃO: 2018, FONTE: 10th IFAC Symposium on Advanced Control of Chemical Processes (ADCHEM) in IFAC PAPERSONLINE, VOLUME: 51, NÚMERO: 18
AUTORES: Reis, MS;
PUBLICAÇÃO: 2018, FONTE: 10th IFAC Symposium on Advanced Control of Chemical Processes (ADCHEM) in IFAC PAPERSONLINE, VOLUME: 51, NÚMERO: 18
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TÃTULO: Multiresolution Analytics for Large Scale Industrial Processes
AUTORES: Reis, MS; Rato, TJ;
PUBLICAÇÃO: 2018, FONTE: 10th IFAC Symposium on Advanced Control of Chemical Processes (ADCHEM) in IFAC PAPERSONLINE, VOLUME: 51, NÚMERO: 18
AUTORES: Reis, MS; Rato, TJ;
PUBLICAÇÃO: 2018, FONTE: 10th IFAC Symposium on Advanced Control of Chemical Processes (ADCHEM) in IFAC PAPERSONLINE, VOLUME: 51, NÚMERO: 18
95
TÃTULO: Advanced Run-to-Run Controller in Semiconductor Manufacturing with Real-time Equipment Condition APC: Advanced Process Control; AM: Advanced Metrology
AUTORES: Yang, WT; Blue, J; Roussy, A; Reis, M; Pinaton, J;
PUBLICAÇÃO: 2018, FONTE: 29th Annual SEMI Advanced Semiconductor Manufacturing Conference (ASMC) in 2018 29TH ANNUAL SEMI ADVANCED SEMICONDUCTOR MANUFACTURING CONFERENCE (ASMC)
AUTORES: Yang, WT; Blue, J; Roussy, A; Reis, M; Pinaton, J;
PUBLICAÇÃO: 2018, FONTE: 29th Annual SEMI Advanced Semiconductor Manufacturing Conference (ASMC) in 2018 29TH ANNUAL SEMI ADVANCED SEMICONDUCTOR MANUFACTURING CONFERENCE (ASMC)
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TÃTULO: From another quality dimension
AUTORES: Sampaio, P; Saraiva, P; Cubo, C; Reis, M;
PUBLICAÇÃO: 2018, FONTE: Quality Progress, VOLUME: 51, NÚMERO: 12
AUTORES: Sampaio, P; Saraiva, P; Cubo, C; Reis, M;
PUBLICAÇÃO: 2018, FONTE: Quality Progress, VOLUME: 51, NÚMERO: 12
INDEXADO EM: 
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Scopus NO MEU: 
ORCID
ORCID97
TÃTULO: Pellet shape classification using deep neural networks
AUTORES: Colegrove, B; Lu, B; Broadway, M; Castillo, I; Chiang, L; Rendall, R; Reis, MS;
PUBLICAÇÃO: 2018, FONTE: 2018 Society of Plastics Engineers Annual Technical Conference, ANTEC 2018 in Annual Technical Conference - ANTEC, Conference Proceedings, VOLUME: 2018-May
AUTORES: Colegrove, B; Lu, B; Broadway, M; Castillo, I; Chiang, L; Rendall, R; Reis, MS;
PUBLICAÇÃO: 2018, FONTE: 2018 Society of Plastics Engineers Annual Technical Conference, ANTEC 2018 in Annual Technical Conference - ANTEC, Conference Proceedings, VOLUME: 2018-May
INDEXADO EM: Scopus
Scopus NO MEU: ORCID
ORCID99
TÃTULO: Markovian and Non-Markovian sensitivity enhancing transformations for process monitoring
AUTORES: Rato, TJ; Reis, MS;
PUBLICAÇÃO: 2017, FONTE: CHEMICAL ENGINEERING SCIENCE, VOLUME: 163
AUTORES: Rato, TJ; Reis, MS;
PUBLICAÇÃO: 2017, FONTE: CHEMICAL ENGINEERING SCIENCE, VOLUME: 163
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TÃTULO: Assessment and Prediction of Lubricant Oil Properties Using Infrared Spectroscopy and Advanced Predictive Analytics
AUTORES: Pinheiro, CT; Rendall, R; Quina, MJ; Reis, MS; Gando Ferreira, LM;
PUBLICAÇÃO: 2017, FONTE: ENERGY & FUELS, VOLUME: 31, NÚMERO: 1
AUTORES: Pinheiro, CT; Rendall, R; Quina, MJ; Reis, MS; Gando Ferreira, LM;
PUBLICAÇÃO: 2017, FONTE: ENERGY & FUELS, VOLUME: 31, NÚMERO: 1
