241
TÍTULO: Strain and composition distributions in wurtzite InGaN/GaN layers extracted from x-ray reciprocal space mapping (vol 80, pg 3913, 2002)  Full Text
AUTORES: Pereira, S ; Correia, MR ; Pereira, E; O'Donnell, KP; Alves, E ; Sequeira, AD; Franco, N; Watson, IM; Deatcher, CJ;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: APPLIED PHYSICS LETTERS, VOLUME: 81, NÚMERO: 18
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef: 8
242
TÍTULO: Depth profiling InGaN/GaN multiple quantum wells by Rutherford backscattering: The role of intermixing  Full Text
AUTORES: Pereira, S ; Pereira, E; Alves, E ; Barradas, NP ; O'Donnell, KP; Liu, C; Deatcher, CJ; Watson, IM;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: APPLIED PHYSICS LETTERS, VOLUME: 81, NÚMERO: 16
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef: 12
243
TÍTULO: Microwave plasma chemical vapour deposition diamond nucleation on ferrous substrates with Ti and Cr interlayers  Full Text
AUTORES: Silva, FJG ; Baptista, APM ; Pereira, E; Teixeira, V ; Fan, QH; Fernandes, AJS; Costa, FM ;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: DIAMOND AND RELATED MATERIALS, VOLUME: 11, NÚMERO: 9
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef: 36
244
TÍTULO: Structural and optical properties of InGaN/GaN layers close to the critical layer thickness  Full Text
AUTORES: Pereira, S ; Correia, MR ; Pereira, E; Trager Cowan, C; Sweeney, F; O'Donnell, KP; Alves, E ; Franco, N; Sequeira, AD;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: APPLIED PHYSICS LETTERS, VOLUME: 81, NÚMERO: 7
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef: 85
245
TÍTULO: Preliminary investigations of infrared Er-related photoluminescence in ion-implanted In0.07Ga0.93N  Full Text
AUTORES: Correia, MR ; Pereira, S ; Cavaco, A; Pereira, E; Alves, E ;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: APPLIED PHYSICS LETTERS, VOLUME: 80, NÚMERO: 24
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef: 6
246
TÍTULO: Splitting of X-ray diffraction and photoluminescence peaks in InGaN/GaN layers  Full Text
AUTORES: Pereira, S ; Correia, MR ; Pereira, E; O'Donnell, KP; Martin, RW; White, ME; Alves, E ; Sequeira, AD; Franco, N;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: Spring Meeting of the European-Materials-Research-Society in MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING B-SOLID STATE MATERIALS FOR ADVANCED TECHNOLOGY, VOLUME: 93, NÚMERO: 1-3
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef: 12
247
TÍTULO: Strain relaxation and compositional analysis of InGaN/GaN layers by Rutherford backscattering  Full Text
AUTORES: Alves, E ; Pereira, S ; Correia, MR ; Pereira, E; Sequeira, AD; Franco, N;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: 15th International Conference on Ion-Beam Analysis (IBA-15) in NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS, VOLUME: 190, NÚMERO: 1-4
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef: 8
248
TÍTULO: Interpretation of double x-ray diffraction peaks from InGaN layers (vol 79, pg 1432, 2001)  Full Text
AUTORES: Pereira, S ; Correia, MR ; Pereira, E; O'Donnell, KP; Alves, E ; Sequeira, AD; Franco, N;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: APPLIED PHYSICS LETTERS, VOLUME: 80, NÚMERO: 2
INDEXADO EM: Scopus WOS
249
TÍTULO: Degradation of structural and optical properties of InGaN/GaN multiple quantum wells with increasing number of wells  Full Text
AUTORES: Pereira, S ; Correia, MR ; Pereira, E; O'Donnell, KP; Alves, E ; Barradas, NP ; Sequeira, AD; Franco, N; Watson, IM; Liu, C;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: International Workshop on Nitride Semiconductors (IWN 2002) in INTERNATIONAL WORKSHOP ON NITRIDE SEMICONDUCTORS, PROCEEDINGS, NÚMERO: 1
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef: 3
250
TÍTULO: Low temperature photoluminescence, transient photoconductivity and microwave reflection for optical properties and transport in PLD-GaN  Full Text
AUTORES: Niehus, M; Sanguino, P; Schwarz, R ; Monteiro, T ; Soares, MJ ; Pereira, E; Kunst, M; Koynov, S;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: International Workshop on Nitride Semiconductors (IWN 2002) in INTERNATIONAL WORKSHOP ON NITRIDE SEMICONDUCTORS, PROCEEDINGS, NÚMERO: 1
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