Nuno Pedro Serras Lucas Nobre Franco
AuthID: R-000-KNV
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TÃTULO: Direct evidence for strain inhomogeneity in InxGa1-xN epilayers by Raman spectroscopy Full Text
AUTORES: Correia, MR ; Pereira, S ; Pereira, E; Frandon, J; Watson, IM; Liu, C; Alves, E ; Sequeira, AD; Franco, N;
PUBLICAÇÃO: 2004, FONTE: APPLIED PHYSICS LETTERS, VOLUME: 85, NÚMERO: 12
AUTORES: Correia, MR ; Pereira, S ; Pereira, E; Frandon, J; Watson, IM; Liu, C; Alves, E ; Sequeira, AD; Franco, N;
PUBLICAÇÃO: 2004, FONTE: APPLIED PHYSICS LETTERS, VOLUME: 85, NÚMERO: 12
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TÃTULO: Absolute scale reciprocal space mapping on X-ray diffractometers incorporating a position sensitive detector: Application to III-nitride semiconductors
AUTORES: Franco, N; Pereira, S ; Sequeira, AD;
PUBLICAÇÃO: 2004, FONTE: 2nd International Materials Symposium in ADVANCED MATERIALS FORUM II, VOLUME: 455-456
AUTORES: Franco, N; Pereira, S ; Sequeira, AD;
PUBLICAÇÃO: 2004, FONTE: 2nd International Materials Symposium in ADVANCED MATERIALS FORUM II, VOLUME: 455-456
INDEXADO EM: 
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Scopus WOS NO MEU: 
ORCID
ORCID133
TÃTULO: Structural characterization and luminescence of Ge/Si quantum dots
AUTORES: Fonseca, A; Sobolev, NA; Leitao, JP ; Carmo, MC; Franco, N; Presting, H; Sequeira, AD;
PUBLICAÇÃO: 2004, FONTE: 2nd International Materials Symposium in ADVANCED MATERIALS FORUM II, VOLUME: 455-456
AUTORES: Fonseca, A; Sobolev, NA; Leitao, JP ; Carmo, MC; Franco, N; Presting, H; Sequeira, AD;
PUBLICAÇÃO: 2004, FONTE: 2nd International Materials Symposium in ADVANCED MATERIALS FORUM II, VOLUME: 455-456
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TÃTULO: Strain and composition distributions in wurtzite InGaN/GaN layers extracted from x-ray reciprocal space mapping (vol 80, pg 3913, 2002) Full Text
AUTORES: Pereira, S ; Correia, MR ; Pereira, E; O'Donnell, KP; Alves, E ; Sequeira, AD; Franco, N; Watson, IM; Deatcher, CJ;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: APPLIED PHYSICS LETTERS, VOLUME: 81, NÚMERO: 18
AUTORES: Pereira, S ; Correia, MR ; Pereira, E; O'Donnell, KP; Alves, E ; Sequeira, AD; Franco, N; Watson, IM; Deatcher, CJ;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: APPLIED PHYSICS LETTERS, VOLUME: 81, NÚMERO: 18
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TÃTULO: Characterisation of corrosion products in Cr implanted Mg surfaces Full Text
AUTORES: Vilarigues, M ; Alves, LC ; Nogueira, ID; Franco, N; Sequeira, AD; da Silva, RC;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: 12th International Conference on Surface Modification of Materials by Ion Beams in SURFACE & COATINGS TECHNOLOGY, VOLUME: 158
AUTORES: Vilarigues, M ; Alves, LC ; Nogueira, ID; Franco, N; Sequeira, AD; da Silva, RC;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: 12th International Conference on Surface Modification of Materials by Ion Beams in SURFACE & COATINGS TECHNOLOGY, VOLUME: 158
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TÃTULO: Structural and optical properties of InGaN/GaN layers close to the critical layer thickness Full Text
AUTORES: Pereira, S ; Correia, MR ; Pereira, E; Trager Cowan, C; Sweeney, F; O'Donnell, KP; Alves, E ; Franco, N; Sequeira, AD;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: APPLIED PHYSICS LETTERS, VOLUME: 81, NÚMERO: 7
AUTORES: Pereira, S ; Correia, MR ; Pereira, E; Trager Cowan, C; Sweeney, F; O'Donnell, KP; Alves, E ; Franco, N; Sequeira, AD;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: APPLIED PHYSICS LETTERS, VOLUME: 81, NÚMERO: 7
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TÃTULO: Splitting of X-ray diffraction and photoluminescence peaks in InGaN/GaN layers Full Text
AUTORES: Pereira, S ; Correia, MR ; Pereira, E; O'Donnell, KP; Martin, RW; White, ME; Alves, E ; Sequeira, AD; Franco, N;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: Spring Meeting of the European-Materials-Research-Society in MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING B-SOLID STATE MATERIALS FOR ADVANCED TECHNOLOGY, VOLUME: 93, NÚMERO: 1-3
AUTORES: Pereira, S ; Correia, MR ; Pereira, E; O'Donnell, KP; Martin, RW; White, ME; Alves, E ; Sequeira, AD; Franco, N;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: Spring Meeting of the European-Materials-Research-Society in MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING B-SOLID STATE MATERIALS FOR ADVANCED TECHNOLOGY, VOLUME: 93, NÚMERO: 1-3
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TÃTULO: Strain and composition distributions in wurtzite InGaN/GaN layers extracted from x-ray reciprocal space mapping Full Text
AUTORES: Pereira, S ; Correia, MR ; Pereira, E; O'Donnell, KP; Alves, E ; Sequeira, AD; Franco, N; Watson, IM; Deatcher, CJ;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: APPLIED PHYSICS LETTERS, VOLUME: 80, NÚMERO: 21
AUTORES: Pereira, S ; Correia, MR ; Pereira, E; O'Donnell, KP; Alves, E ; Sequeira, AD; Franco, N; Watson, IM; Deatcher, CJ;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: APPLIED PHYSICS LETTERS, VOLUME: 80, NÚMERO: 21
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TÃTULO: Strain relaxation and compositional analysis of InGaN/GaN layers by Rutherford backscattering Full Text
AUTORES: Alves, E ; Pereira, S ; Correia, MR ; Pereira, E; Sequeira, AD; Franco, N;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: 15th International Conference on Ion-Beam Analysis (IBA-15) in NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS, VOLUME: 190, NÚMERO: 1-4
AUTORES: Alves, E ; Pereira, S ; Correia, MR ; Pereira, E; Sequeira, AD; Franco, N;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: 15th International Conference on Ion-Beam Analysis (IBA-15) in NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS, VOLUME: 190, NÚMERO: 1-4
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TÃTULO: Application of high-resolution X-ray diffraction to study strain status in Si1-xGex/Si1-yGey/Si (001) heterostructures Full Text
AUTORES: Chtcherbatchev, KD; Sequeira, AD; Franco, N; Barradas, NP ; Myronov, M; Mironov, OA; Parker, EHC;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: 9th International Conference on Defects: Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors (DRIP IX) in MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING B-SOLID STATE MATERIALS FOR ADVANCED TECHNOLOGY, VOLUME: 91
AUTORES: Chtcherbatchev, KD; Sequeira, AD; Franco, N; Barradas, NP ; Myronov, M; Mironov, OA; Parker, EHC;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: 9th International Conference on Defects: Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors (DRIP IX) in MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING B-SOLID STATE MATERIALS FOR ADVANCED TECHNOLOGY, VOLUME: 91
