Michal Kubinyi
AuthID: R-006-MC9
1
TÃTULO: Measuring interface for an ECT System
AUTORES: Helena Geirinhas Ramos ; Artur Lopes Ribeiro; Michal Kubinyi;
PUBLICAÇÃO: 2011, FONTE: PRZEGLAD ELEKTROTECHNICZNY, VOLUME: 87, NÚMERO: 7
AUTORES: Helena Geirinhas Ramos ; Artur Lopes Ribeiro; Michal Kubinyi;
PUBLICAÇÃO: 2011, FONTE: PRZEGLAD ELEKTROTECHNICZNY, VOLUME: 87, NÚMERO: 7
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WOS
WOS2
TÃTULO: Measuring interface for an ECT system [Interfejs pomiarowy w systemie wykorzystuja{ogonek}cym pra{ogonek}dy wirowe]
AUTORES: Ramos, HG ; Ribeiro, AL ; Kubinyi, M;
PUBLICAÇÃO: 2011, FONTE: Przeglad Elektrotechniczny, VOLUME: 87, NÚMERO: 7
AUTORES: Ramos, HG ; Ribeiro, AL ; Kubinyi, M;
PUBLICAÇÃO: 2011, FONTE: Przeglad Elektrotechniczny, VOLUME: 87, NÚMERO: 7
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Scopus3
TÃTULO: Signal processing for non-contact NDE
AUTORES: Michal Kubinyi; Adam Docekal; Helena G Ramos ; Artur L Ribeiro ;
PUBLICAÇÃO: 2010, FONTE: PRZEGLAD ELEKTROTECHNICZNY, VOLUME: 86, NÚMERO: 1
AUTORES: Michal Kubinyi; Adam Docekal; Helena G Ramos ; Artur L Ribeiro ;
PUBLICAÇÃO: 2010, FONTE: PRZEGLAD ELEKTROTECHNICZNY, VOLUME: 86, NÚMERO: 1
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Scopus WOS4
TÃTULO: Signal processing in an eddy current non-destructive testing system
AUTORES: Ramos, HG ; Ribeiro, AL ; Radil, T; Kubinyi, M; Paval, M;
PUBLICAÇÃO: 2008, FONTE: 16th IMEKO TC4 International Symposium on Exploring New Frontiers of Instrumentation and Methods for Electrical and Electronic Measurements; 13th International Workshop on ADC Modelling and Testing - IMEKO TC4 - TC21 Joint Session in 16th IMEKO TC4 Int. Symp.: Exploring New Frontiers of Instrum. and Methods for Electrical and Electronic Measurements; 13th TC21 Int. Workshop on ADC Modelling and Testing - Joint Session, Proc.
AUTORES: Ramos, HG ; Ribeiro, AL ; Radil, T; Kubinyi, M; Paval, M;
PUBLICAÇÃO: 2008, FONTE: 16th IMEKO TC4 International Symposium on Exploring New Frontiers of Instrumentation and Methods for Electrical and Electronic Measurements; 13th International Workshop on ADC Modelling and Testing - IMEKO TC4 - TC21 Joint Session in 16th IMEKO TC4 Int. Symp.: Exploring New Frontiers of Instrum. and Methods for Electrical and Electronic Measurements; 13th TC21 Int. Workshop on ADC Modelling and Testing - Joint Session, Proc.
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