Florence Gloux


AuthID: R-006-PPW

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TÍTULO: TEM investigation of Tm implanted GaN, the influence of high temperature annealing  Full Text
AUTORES: Wójtowicz, T; Gloux, F; Ruterana, P; Lorenz, K; Alves, E;
PUBLICAÇÃO: 2006, FONTE: Optical Materials, VOLUME: 28, NÚMERO: 6-7
INDEXADO EM: CrossRef
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