J. Demeulemeester
AuthID: R-007-2HN
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TÃTULO: On the growth kinetics of Ni(Pt) silicide thin films Full Text
AUTORES: Demeulemeester, J; Smeets, D; Comrie, CM; Barradas, NP ; Vieira, A; Van Bockstael, C; Detavernier, C; Temst, K; Vantomme, A;
PUBLICAÇÃO: 2013, FONTE: JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, VOLUME: 113, NÚMERO: 16
AUTORES: Demeulemeester, J; Smeets, D; Comrie, CM; Barradas, NP ; Vieira, A; Van Bockstael, C; Detavernier, C; Temst, K; Vantomme, A;
PUBLICAÇÃO: 2013, FONTE: JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, VOLUME: 113, NÚMERO: 16
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TÃTULO: In situ study of the growth properties of Ni-rare earth silicides for interlayer and alloy systems on Si(100) Full Text
AUTORES: Demeulemeester, J; Knaepen, W; Smeets, D; Schrauwen, A; Comrie, CM; Barradas, NP ; Vieira, A; Detavernier, C; Temst, K; Vantomme, A;
PUBLICAÇÃO: 2012, FONTE: JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, VOLUME: 111, NÚMERO: 4
AUTORES: Demeulemeester, J; Knaepen, W; Smeets, D; Schrauwen, A; Comrie, CM; Barradas, NP ; Vieira, A; Detavernier, C; Temst, K; Vantomme, A;
PUBLICAÇÃO: 2012, FONTE: JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, VOLUME: 111, NÚMERO: 4
3
TÃTULO: Artificial neural networks for instantaneous analysis of real-time Rutherford backscattering spectra Full Text
AUTORES: Demeulemeester, J; Smeets, D; Barradas, NP ; Vieira, A; Comrie, CM; Temst, K; Vantomme, A;
PUBLICAÇÃO: 2010, FONTE: NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS, VOLUME: 268, NÚMERO: 10
AUTORES: Demeulemeester, J; Smeets, D; Barradas, NP ; Vieira, A; Comrie, CM; Temst, K; Vantomme, A;
PUBLICAÇÃO: 2010, FONTE: NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS, VOLUME: 268, NÚMERO: 10
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TÃTULO: Pt redistribution during Ni(Pt) silicide formation Full Text
AUTORES: Demeulemeester, J; Smeets, D; Van Bockstael, C; Detavernier, C; Comrie, CM; Barradas, NP ; Vieira, A; Vantomme, A;
PUBLICAÇÃO: 2008, FONTE: APPLIED PHYSICS LETTERS, VOLUME: 93, NÚMERO: 26
AUTORES: Demeulemeester, J; Smeets, D; Van Bockstael, C; Detavernier, C; Comrie, CM; Barradas, NP ; Vieira, A; Vantomme, A;
PUBLICAÇÃO: 2008, FONTE: APPLIED PHYSICS LETTERS, VOLUME: 93, NÚMERO: 26
