101
TÍTULO: Preparation of microobjects with application of high-pure indium for SIMS analysis
AUTORES: Kitaeva, TI; Tolstoguzov, AB; Trunin, EB; Trunina, OE;
PUBLICAÇÃO: 2004, FONTE: Poverkhnost Rentgenovskie Sinkhronnye i Nejtronnye Issledovaniya, NÚMERO: 8
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102
TÍTULO: Characterization of Al+ secondary ion emission produced by Ne+ and Ar+ bombardment of aluminium surface
AUTORES: Tolstogouzov, A; Belykh, SF; Stepanova, M; Dew, SK; Pagura, C;
PUBLICAÇÃO: 2004, FONTE: Surface Review and Letters, VOLUME: 11, NÚMERO: 4-5
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103
TÍTULO: CHARACTERIZATION OF Al + SECONDARY ION EMISSION PRODUCED BY Ne + AND Ar + BOMBARDMENT OF ALUMINIUM SURFACE   Full Text
AUTORES: TOLSTOGOUZOV, A; BELYKH, SF; STEPANOVA, M; DEW, SK; PAGURA, C;
PUBLICAÇÃO: 2004, FONTE: Surf. Rev. Lett. - Surface Review and Letters, VOLUME: 11, NÚMERO: 04n05
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104
TÍTULO: Energy distributions of Ga+ and In+ secondary ions sputtered from AIIIBV compound semiconductors by noble gas ions: Mass-dependence of the high-energy yield on the second component (P, As, Sb) of the compounds  Full Text
AUTORES: Tolstogouzov, A; Daolio, S; Pagura, C; Greenwood, CL; Karpuzov, DS; McIntyre, NS;
PUBLICAÇÃO: 2003, FONTE: IISC-14 in Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms, VOLUME: 203
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105
TÍTULO: Dependence of scattered ion yield on the incident energy:: Ne<SUP>+</SUP> on pure gallium and indium
AUTORES: Tolstogouzov, A; Daolio, S; Pagura, C; Greenwood, CL;
PUBLICAÇÃO: 2003, FONTE: SURFACE SCIENCE, VOLUME: 531, NÚMERO: 2
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106
TÍTULO: Energy distributions of Ga<SUP>+</SUP> and In<SUP>+</SUP> secondary ions sputtered from A<SUP>III</SUP>B<SUP>V</SUP> compound semiconductors by noble gas ions:: Mass-dependence of the high-energy yield on the second component (P, As, Sb) of the compounds
AUTORES: Tolstogouzov, A; Daolio, S; Pagura, C; Greenwood, CL; Karpuzov, DS; McIntyre, NS;
PUBLICAÇÃO: 2003, FONTE: NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS, VOLUME: 203
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107
TÍTULO: Simultaneous layer-by-layer analysis of thin-film samples using mass-separated ion scattering, mass-spectrometry of secondary ions techniques and measuring the sample's full current obraztsa
AUTORES: Tolstoguzov, AB; Grinvud, KL;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: Poverkhnost Rentgenovskie Sinkhronnye i Nejtronnye Issledovaniya, NÚMERO: 12
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108
TÍTULO: Energy distributions of secondary ions sputtered from aluminium and magnesium by Ne<SUP>+</SUP>, Ar<SUP>+</SUP> and O<sub>2</sub><SUP>+</SUP>:: a comprehensive study
AUTORES: Tolstogouzov, A; Daolio, S; Pagura, C; Greenwood, CL;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: INTERNATIONAL JOURNAL OF MASS SPECTROMETRY, VOLUME: 214, NÚMERO: 3
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109
TÍTULO: Hyperthermal and low-energy Ne<SUP>+</SUP> scattering from Au and Pt surfaces
AUTORES: Tolstogouzov, A; Daolio, S; Pagura, C;
PUBLICAÇÃO: 2001, FONTE: NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS, VOLUME: 183, NÚMERO: 1-2
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110
TÍTULO: Neutralization of low-energy Ne<SUP>+</SUP> ions scattered from metal surfaces:: study by mass-resolved ion-scattering spectrometry
AUTORES: Tolstogouzov, A; Daolio, S; Pagura, C; Greenwood, CL;
PUBLICAÇÃO: 2000, FONTE: SURFACE SCIENCE, VOLUME: 466, NÚMERO: 1-3
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