Christopher Tholander
AuthID: R-00F-C8H
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TÃTULO: YxAl1-xN thin films Full Text
AUTORES: Agne Zukauskaite; Christopher Tholander; Justinas Palisaitis; Per O A Persson; Vanya Darakchieva; Nebiha Ben Sedrine; Ferenc Tasnadi; Bjorn Alling; Jens Birch; Lars Hultman;
PUBLICAÇÃO: 2012, FONTE: JOURNAL OF PHYSICS D-APPLIED PHYSICS, VOLUME: 45, NÚMERO: 42
AUTORES: Agne Zukauskaite; Christopher Tholander; Justinas Palisaitis; Per O A Persson; Vanya Darakchieva; Nebiha Ben Sedrine; Ferenc Tasnadi; Bjorn Alling; Jens Birch; Lars Hultman;
PUBLICAÇÃO: 2012, FONTE: JOURNAL OF PHYSICS D-APPLIED PHYSICS, VOLUME: 45, NÚMERO: 42
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TÃTULO: Y x Al 1− x N thin films Full Text
AUTORES: Agnė Žukauskaitė; Christopher Tholander; Justinas Palisaitis; Per O Å Persson; Vanya Darakchieva; Nebiha Ben Sedrine; Ferenc Tasnádi; Björn Alling; Jens Birch; Lars Hultman;
PUBLICAÇÃO: 2012, FONTE: Journal of Physics D: Applied Physics - J. Phys. D: Appl. Phys., VOLUME: 45, NÚMERO: 42
AUTORES: Agnė Žukauskaitė; Christopher Tholander; Justinas Palisaitis; Per O Å Persson; Vanya Darakchieva; Nebiha Ben Sedrine; Ferenc Tasnádi; Björn Alling; Jens Birch; Lars Hultman;
PUBLICAÇÃO: 2012, FONTE: Journal of Physics D: Applied Physics - J. Phys. D: Appl. Phys., VOLUME: 45, NÚMERO: 42
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