1
TÍTULO: The depth profile analysis of W-Si-N coatings after thermal annealing  Full Text
AUTORES: Louro, C ; Cavaleiro, A ; Dub, S; Smid, P; Musil, J; Vlcek, J;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: SURFACE & COATINGS TECHNOLOGY, VOLUME: 161, NÚMERO: 2-3
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef: 11