A.a Fraerman
AuthID: R-00G-EQA
1
TÃTULO: MFM tip induced remagnetization effects in elliptical ferromagnetic nanoparticles
AUTORES: Mironov, VL; Gribkov, BA; Fraerman, AA; Polushkin, NI; Vdovichev, SN;
PUBLICAÇÃO: 2005, FONTE: International Conference on Physics, Chemistry and Applications of Nanostructures Physics, NANOMEETING 2005 in Physics, Chemistry and Application of Nanostructures - Reviews and Short Notes to NANOMEETING 2005
AUTORES: Mironov, VL; Gribkov, BA; Fraerman, AA; Polushkin, NI; Vdovichev, SN;
PUBLICAÇÃO: 2005, FONTE: International Conference on Physics, Chemistry and Applications of Nanostructures Physics, NANOMEETING 2005 in Physics, Chemistry and Application of Nanostructures - Reviews and Short Notes to NANOMEETING 2005
INDEXADO EM: Scopus
2
TÃTULO: Observation of MFM tip-induced remagnetization effects in elliptical ferromagnetic nanoparticles
AUTORES: Fraerman, AA; Gribkov, BA; Gusev, SA; Mironov, VL; Polushkin, NI; Vdovichev, SN;
PUBLICAÇÃO: 2004, FONTE: PHYSICS OF LOW-DIMENSIONAL STRUCTURES, VOLUME: 1-2
AUTORES: Fraerman, AA; Gribkov, BA; Gusev, SA; Mironov, VL; Polushkin, NI; Vdovichev, SN;
PUBLICAÇÃO: 2004, FONTE: PHYSICS OF LOW-DIMENSIONAL STRUCTURES, VOLUME: 1-2
INDEXADO EM: WOS
3
TÃTULO: DIFFUSION IN MULTILAYER STRUCTURES OF METAL-CARBON SUPERTHIN FILMS Full Text
AUTORES: AKHSAKHALYAN, AD; FRAERMAN, AA; PLATONOV, YY; POLUSHKIN, NI; SALASHCHENKO, NN;
PUBLICAÇÃO: 1992, FONTE: THIN SOLID FILMS, VOLUME: 207, NÚMERO: 1-2
AUTORES: AKHSAKHALYAN, AD; FRAERMAN, AA; PLATONOV, YY; POLUSHKIN, NI; SALASHCHENKO, NN;
PUBLICAÇÃO: 1992, FONTE: THIN SOLID FILMS, VOLUME: 207, NÚMERO: 1-2
INDEXADO EM: Scopus WOS
4
TÃTULO: DETERMINATION OF LAYERED SYNTHETIC MICROSTRUCTURE PARAMETERS Full Text
AUTORES: AKHSAKHALYAN, AD; FRAERMAN, AA; POLUSHKIN, NI; PLATONOV, YY; SALASHCHENKO, NN;
PUBLICAÇÃO: 1991, FONTE: THIN SOLID FILMS, VOLUME: 203, NÚMERO: 2
AUTORES: AKHSAKHALYAN, AD; FRAERMAN, AA; POLUSHKIN, NI; PLATONOV, YY; SALASHCHENKO, NN;
PUBLICAÇÃO: 1991, FONTE: THIN SOLID FILMS, VOLUME: 203, NÚMERO: 2
INDEXADO EM: Scopus WOS
5
TÃTULO: Determination of layered synthetic microstructure parameters Full Text
AUTORES: A.D Akhsakhalyan; A.A Fraerman; N.I Polushkin; Yu.Ya Platonov; N.N Salashchenko;
PUBLICAÇÃO: 1991, FONTE: Thin Solid Films, VOLUME: 203, NÚMERO: 2
AUTORES: A.D Akhsakhalyan; A.A Fraerman; N.I Polushkin; Yu.Ya Platonov; N.N Salashchenko;
PUBLICAÇÃO: 1991, FONTE: Thin Solid Films, VOLUME: 203, NÚMERO: 2
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