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TÍTULO: High-depth-resolution Rutherford backscattering data and error analysis of SiGe systems using the simulated annealing and Markov chain Monte Carlo algorithms
AUTORES: Barradas, NP ; Knights, AP; Jeynes, C; Mironov, OA; Grasby, TJ; Parker, EHC;
PUBLICAÇÃO: 1999, FONTE: PHYSICAL REVIEW B, VOLUME: 59, NÚMERO: 7
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