A. Toscano?Rico
AuthID: R-00G-YDY
1
TÃTULO: Hall effect measurements of hole mobility in an inversion layer at the SiSiO2 interface
AUTORES: Toscano‐Rico, A; Pfister, JC;
PUBLICAÇÃO: 1971, FONTE: physica status solidi (a), VOLUME: 5, NÚMERO: 1
AUTORES: Toscano‐Rico, A; Pfister, JC;
PUBLICAÇÃO: 1971, FONTE: physica status solidi (a), VOLUME: 5, NÚMERO: 1
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