Brian Cobb


AuthID: R-00H-0AR

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TÍTULO: Interpreting anomalies observed in oxide semiconductor TFTs under negative and positive bias stress  Full Text
AUTORES: Jong Woo Jin; Arokia Nathan; Pedro Barquinha; Luis Pereira; Elvira Fortunato; Rodrigo Martins; Brian Cobb;
PUBLICAÇÃO: 2016, FONTE: AIP ADVANCES, VOLUME: 6, NÚMERO: 8
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef

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