Rene Just
AuthID: R-00H-KQ3
1
TÃTULO: FRAFOL: FRAmework FOr Learning mutation testing
AUTORES: Tavares, Pedro; Paiva, Ana ; Amalfitano, Domenico; Just, Rene;
PUBLICAÇÃO: 2024, FONTE: 33rd ACM SIGSOFT International Conference on Software Testing and Analysis (ISSTA) in PROCEEDINGS OF THE 33RD ACM SIGSOFT INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON SOFTWARE TESTING AND ANALYSIS, ISSTA 2024
AUTORES: Tavares, Pedro; Paiva, Ana ; Amalfitano, Domenico; Just, Rene;
PUBLICAÇÃO: 2024, FONTE: 33rd ACM SIGSOFT International Conference on Software Testing and Analysis (ISSTA) in PROCEEDINGS OF THE 33RD ACM SIGSOFT INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON SOFTWARE TESTING AND ANALYSIS, ISSTA 2024
2
TÃTULO: Proceedings of the 32nd ACM SIGSOFT International Symposium on Software Testing and Analysis, ISSTA 2023, Seattle, WA, USA, July 17-21, 2023
AUTORES: René Just; Gordon Fraser;
PUBLICAÇÃO: 2023, FONTE: ISSTA
AUTORES: René Just; Gordon Fraser;
PUBLICAÇÃO: 2023, FONTE: ISSTA
INDEXADO EM: 
DBLP
DBLP3
TÃTULO: How Do Java Mutation Tools Differ? Full Text
AUTORES: Amalfitano, Domenico; Paiva, Ana C. R. ; Inquel, Alexis; Pinto, Luis; Fasolino, Anna Rita; Just, Rene;
PUBLICAÇÃO: 2022, FONTE: COMMUNICATIONS OF THE ACM, VOLUME: 65, NÚMERO: 12
AUTORES: Amalfitano, Domenico; Paiva, Ana C. R. ; Inquel, Alexis; Pinto, Luis; Fasolino, Anna Rita; Just, Rene;
PUBLICAÇÃO: 2022, FONTE: COMMUNICATIONS OF THE ACM, VOLUME: 65, NÚMERO: 12
4
TÃTULO: Evaluating and improving fault localization
AUTORES: Pearson, S; Campos, J ; Just, R; Fraser, G; Abreu, R ; Ernst, MD; Pang, D; Keller, B;
PUBLICAÇÃO: 2017, FONTE: 39th IEEE/ACM International Conference on Software Engineering (ICSE) in 2017 IEEE/ACM 39TH INTERNATIONAL CONFERENCE ON SOFTWARE ENGINEERING (ICSE)
AUTORES: Pearson, S; Campos, J ; Just, R; Fraser, G; Abreu, R ; Ernst, MD; Pang, D; Keller, B;
PUBLICAÇÃO: 2017, FONTE: 39th IEEE/ACM International Conference on Software Engineering (ICSE) in 2017 IEEE/ACM 39TH INTERNATIONAL CONFERENCE ON SOFTWARE ENGINEERING (ICSE)
