Uwe Papenberg
AuthID: R-00H-N02
1
TÃTULO: Back Side Die Preparation for Check of Backend Related Problems
AUTORES: Michael Huettinger; Uwe Papenberg; Jerome Touzel; Abel Janeiro; Ricardo Guedes; Conceicao Caldeira; Carla Ribeiro;
PUBLICAÇÃO: 2006, FONTE: 32nd International Symposium for Testing and Failure Analysis in ISTFA 2006
AUTORES: Michael Huettinger; Uwe Papenberg; Jerome Touzel; Abel Janeiro; Ricardo Guedes; Conceicao Caldeira; Carla Ribeiro;
PUBLICAÇÃO: 2006, FONTE: 32nd International Symposium for Testing and Failure Analysis in ISTFA 2006
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WOS
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