K. L. Grinvud


AuthID: R-00J-4WM

Publicações a aguardar confirmação

1
TÍTULO: Simultaneous layer-by-layer analysis of thin-film samples using mass-separated ion scattering, mass-spectrometry of secondary ions techniques and measuring the sample's full current obraztsa
AUTORES: Tolstoguzov, AB; Grinvud, KL;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: Poverkhnost Rentgenovskie Sinkhronnye i Nejtronnye Issledovaniya, NÚMERO: 12
INDEXADO EM: Scopus

Um espaço para investigadores e suas Instituições

Links Úteis

Ajuda

© 2024 CRACS & Inesc TEC - All Rights Reserved Política de Privacidade | Terms of Service