H. Mewada
AuthID: R-00K-5KQ
1
TÃTULO: Fabric surface defect classification and systematic analysis using a cuckoo search optimized deep residual network
AUTORES: Mewada, Hiren; Ivan Pires ; Engineer, Pinalkumar; Patel, Amit, V;
PUBLICAÇÃO: 2024, FONTE: ENGINEERING SCIENCE AND TECHNOLOGY-AN INTERNATIONAL JOURNAL-JESTECH, VOLUME: 53
AUTORES: Mewada, Hiren; Ivan Pires ; Engineer, Pinalkumar; Patel, Amit, V;
PUBLICAÇÃO: 2024, FONTE: ENGINEERING SCIENCE AND TECHNOLOGY-AN INTERNATIONAL JOURNAL-JESTECH, VOLUME: 53
2
TÃTULO: Mobile and wearable technologies for the analysis of Ten Meter Walk Test: A concise systematic review
AUTORES: Gabriel, Cristiana Lopes; Ivan Pires ; Coelho, Paulo Jorge; Zdravevski, Eftim; Lameski, Petre; Mewada, Hiren; Madeira, Filipe; Garcia, Nuno M.; Carreto, Carlos ;
PUBLICAÇÃO: 2023, FONTE: HELIYON, VOLUME: 9, NÚMERO: 6
AUTORES: Gabriel, Cristiana Lopes; Ivan Pires ; Coelho, Paulo Jorge; Zdravevski, Eftim; Lameski, Petre; Mewada, Hiren; Madeira, Filipe; Garcia, Nuno M.; Carreto, Carlos ;
PUBLICAÇÃO: 2023, FONTE: HELIYON, VOLUME: 9, NÚMERO: 6
