João Pedro Abreu de Oliveira
AuthID: R-000-7CS
1
TÃTULO: Machine learning methods, applications and economic analysis to predict heart failure hospitalisation risk: a scoping review protocol Full Text
AUTORES: Seringa, Joana; Abreu, Joao; Magalhaes, Teresa;
PUBLICAÇÃO: 2024, FONTE: BMJ OPEN, VOLUME: 14, NÚMERO: 4
AUTORES: Seringa, Joana; Abreu, Joao; Magalhaes, Teresa;
PUBLICAÇÃO: 2024, FONTE: BMJ OPEN, VOLUME: 14, NÚMERO: 4
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TÃTULO: IEEE SSCS–EDS ESSCIRC–ESSDERC 2023 [Conference Reports]
AUTORES: João Goes; José de la Rosa; Andreia Cathelin; Jorge Fernandes; João Oliveira; Luís Bica de Oliveira; Nuno Paulino;
PUBLICAÇÃO: 2024, FONTE: IEEE Solid-State Circuits Magazine, VOLUME: 16, NÚMERO: 1
AUTORES: João Goes; José de la Rosa; Andreia Cathelin; Jorge Fernandes; João Oliveira; Luís Bica de Oliveira; Nuno Paulino;
PUBLICAÇÃO: 2024, FONTE: IEEE Solid-State Circuits Magazine, VOLUME: 16, NÚMERO: 1
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TÃTULO: A Standard-Cell-Based Neuro-Inspired Integrate-and-Fire Analog-to-Time Converter for Biological and Low-Frequency Signals - Comparison With Analog Version Full Text
AUTORES: Teixeira, Miguel Lima; Oliveira, Joao P.; Principe, Jose C.; Goes, Joao;
PUBLICAÇÃO: 2024, FONTE: IEEE TRANSACTIONS ON BIOMEDICAL CIRCUITS AND SYSTEMS, VOLUME: 18, NÚMERO: 4
AUTORES: Teixeira, Miguel Lima; Oliveira, Joao P.; Principe, Jose C.; Goes, Joao;
PUBLICAÇÃO: 2024, FONTE: IEEE TRANSACTIONS ON BIOMEDICAL CIRCUITS AND SYSTEMS, VOLUME: 18, NÚMERO: 4
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TÃTULO: Comparative analysis of MIG brazing modes: process stability, bead morphology, microstructure, and mechanical properties Full Text
AUTORES: Singh, Jaivindra; Arora, Kanwer Singh; Oliveira, Joao P.; Asati, Brajesh;
PUBLICAÇÃO: 2024, FONTE: INTERNATIONAL JOURNAL OF ADVANCED MANUFACTURING TECHNOLOGY
AUTORES: Singh, Jaivindra; Arora, Kanwer Singh; Oliveira, Joao P.; Asati, Brajesh;
PUBLICAÇÃO: 2024, FONTE: INTERNATIONAL JOURNAL OF ADVANCED MANUFACTURING TECHNOLOGY
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TÃTULO: Retraction and Verbal Disputes
AUTORES: Pedro Abreu; Marcin Lewiński;
PUBLICAÇÃO: 2024, FONTE: Synthese Library, VOLUME: 488
AUTORES: Pedro Abreu; Marcin Lewiński;
PUBLICAÇÃO: 2024, FONTE: Synthese Library, VOLUME: 488
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TÃTULO: Impact and compensation of carrier synchronization errors in OFDM signals with very large QAM constellations
AUTORES: Mokhtari, Zahra; Dinis, Rui; Oliveira, Luis; Oliveira, Joao;
PUBLICAÇÃO: 2023, FONTE: IET COMMUNICATIONS, VOLUME: 17, NÚMERO: 9
AUTORES: Mokhtari, Zahra; Dinis, Rui; Oliveira, Luis; Oliveira, Joao;
PUBLICAÇÃO: 2023, FONTE: IET COMMUNICATIONS, VOLUME: 17, NÚMERO: 9
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TÃTULO: A Skew-Insensitive Switched Source-Follower Analog Frontend for Time-Interleaved ADCs
AUTORES: Leonardo, David; Xavier, Joao; Oliveira, Joao; Goes, Joao;
PUBLICAÇÃO: 2023, FONTE: 18th International Conference on Ph.D Research in Microelectronics and Electronics (PRIME) in 2023 18TH CONFERENCE ON PH.D RESEARCH IN MICROELECTRONICS AND ELECTRONICS, PRIME
AUTORES: Leonardo, David; Xavier, Joao; Oliveira, Joao; Goes, Joao;
PUBLICAÇÃO: 2023, FONTE: 18th International Conference on Ph.D Research in Microelectronics and Electronics (PRIME) in 2023 18TH CONFERENCE ON PH.D RESEARCH IN MICROELECTRONICS AND ELECTRONICS, PRIME
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TÃTULO: Introduction: Metalinguistic Disagreement and Semantic Externalism Full Text
AUTORES: Abreu, Pedro; Terzian, Giulia;
PUBLICAÇÃO: 2023, FONTE: TOPOI-AN INTERNATIONAL REVIEW OF PHILOSOPHY
AUTORES: Abreu, Pedro; Terzian, Giulia;
PUBLICAÇÃO: 2023, FONTE: TOPOI-AN INTERNATIONAL REVIEW OF PHILOSOPHY
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TÃTULO: Design of an RF-CMOS Switched-Capacitor Power Amplifier for NB-IoT RF Transceivers
AUTORES: Ana Isabel Santos; Joao Pedro Oliveira;
PUBLICAÇÃO: 2023, FONTE: 2023 International Young Engineers Forum in Electrical and Computer Engineering, YEF-ECE 2023 in Proceedings - 2023 International Young Engineers Forum in Electrical and Computer Engineering, YEF-ECE 2023
AUTORES: Ana Isabel Santos; Joao Pedro Oliveira;
PUBLICAÇÃO: 2023, FONTE: 2023 International Young Engineers Forum in Electrical and Computer Engineering, YEF-ECE 2023 in Proceedings - 2023 International Young Engineers Forum in Electrical and Computer Engineering, YEF-ECE 2023
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TÃTULO: Assessment of the Zero Distortion Bias Point Using Design-Oriented 7-Parameter MOSFET Model
AUTORES: Rodrigo Pinto; Pedro Toledo; Joao Oliveira;
PUBLICAÇÃO: 2023, FONTE: 2023 International Young Engineers Forum in Electrical and Computer Engineering, YEF-ECE 2023 in Proceedings - 2023 International Young Engineers Forum in Electrical and Computer Engineering, YEF-ECE 2023
AUTORES: Rodrigo Pinto; Pedro Toledo; Joao Oliveira;
PUBLICAÇÃO: 2023, FONTE: 2023 International Young Engineers Forum in Electrical and Computer Engineering, YEF-ECE 2023 in Proceedings - 2023 International Young Engineers Forum in Electrical and Computer Engineering, YEF-ECE 2023
