Chevrier
AuthID: R-002-XQA
21
TÃTULO: Lattice instability in aluminum-silicon solid solutions Full Text
AUTORES: Chevrier, J; Suck, JB; Lasjuanias, JC;
PUBLICAÇÃO: 1993, FONTE: Journal of Non-Crystalline Solids, VOLUME: 156-158, NÚMERO: PART 2
AUTORES: Chevrier, J; Suck, JB; Lasjuanias, JC;
PUBLICAÇÃO: 1993, FONTE: Journal of Non-Crystalline Solids, VOLUME: 156-158, NÚMERO: PART 2
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TÃTULO: Silicide epilayers: recent developments and prospects for a Si-compatible technology Full Text
AUTORES: Derrien, J; Chevrier, J; Le Thanh, V; Crumbaker, TE; Natoli, JY; Berbezier, I;
PUBLICAÇÃO: 1993, FONTE: Applied Surface Science, VOLUME: 70-71, NÚMERO: PART 2
AUTORES: Derrien, J; Chevrier, J; Le Thanh, V; Crumbaker, TE; Natoli, JY; Berbezier, I;
PUBLICAÇÃO: 1993, FONTE: Applied Surface Science, VOLUME: 70-71, NÚMERO: PART 2
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TÃTULO: Strained and relaxed semiconducting silicide layers heteroepitaxially grown on silicon
AUTORES: Chevrier, J; Thanh Vinh Le; Derrien, J;
PUBLICAÇÃO: 1993, FONTE: Scanning Microscopy, VOLUME: 7, NÚMERO: 2
AUTORES: Chevrier, J; Thanh Vinh Le; Derrien, J;
PUBLICAÇÃO: 1993, FONTE: Scanning Microscopy, VOLUME: 7, NÚMERO: 2
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TÃTULO: Synthesis and properties of epitaxial semiconducting silicides Full Text
AUTORES: Derrien, J; Chevrier, J; Thanh Vinh, L; Berbezier, I; Giannini, C; Lagomarsino, S; Grimaldi, MG;
PUBLICAÇÃO: 1993, FONTE: Applied Surface Science, VOLUME: 73, NÚMERO: C
AUTORES: Derrien, J; Chevrier, J; Thanh Vinh, L; Berbezier, I; Giannini, C; Lagomarsino, S; Grimaldi, MG;
PUBLICAÇÃO: 1993, FONTE: Applied Surface Science, VOLUME: 73, NÚMERO: C
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TÃTULO: Epitaxial growth of β-FeSi2 on silicon (111): a real-time RHEED analysis Full Text
AUTORES: Chevrier, J; Le Thanh, V; Nitsche, S; Derrien, J;
PUBLICAÇÃO: 1992, FONTE: Applied Surface Science, VOLUME: 56-58, NÚMERO: PART 1
AUTORES: Chevrier, J; Le Thanh, V; Nitsche, S; Derrien, J;
PUBLICAÇÃO: 1992, FONTE: Applied Surface Science, VOLUME: 56-58, NÚMERO: PART 1
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TÃTULO: Infrared and electrical properties of thin films and junctions of β-FeSi2 Full Text
AUTORES: Lefki, K; Muret, P; Cherief, N; Bustarret, E; Nguyen, TTA; Boutarek, N; Madar, R; Chevrier, J; Derrien, J; Brunel, M;
PUBLICAÇÃO: 1992, FONTE: Sensors and Actuators: A. Physical, VOLUME: 33, NÚMERO: 1-2
AUTORES: Lefki, K; Muret, P; Cherief, N; Bustarret, E; Nguyen, TTA; Boutarek, N; Madar, R; Chevrier, J; Derrien, J; Brunel, M;
PUBLICAÇÃO: 1992, FONTE: Sensors and Actuators: A. Physical, VOLUME: 33, NÚMERO: 1-2
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TÃTULO: Phase transition on the Si(111) surface: a first order phase transition under strain? Full Text
AUTORES: Chevrier, J; Vinh, LT; Cruz, A;
PUBLICAÇÃO: 1992, FONTE: Surface Science, VOLUME: 268, NÚMERO: 1-3
AUTORES: Chevrier, J; Vinh, LT; Cruz, A;
PUBLICAÇÃO: 1992, FONTE: Surface Science, VOLUME: 268, NÚMERO: 1-3
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TÃTULO: Semiconducting silicide-silicon heterostructures: growth, properties and applications Full Text
AUTORES: Derrien, J; Chevrier, J; Le Thanh, V; Mahan, JE;
PUBLICAÇÃO: 1992, FONTE: Applied Surface Science, VOLUME: 56-58, NÚMERO: PART 1
AUTORES: Derrien, J; Chevrier, J; Le Thanh, V; Mahan, JE;
PUBLICAÇÃO: 1992, FONTE: Applied Surface Science, VOLUME: 56-58, NÚMERO: PART 1
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TÃTULO: Infrared and Raman characterization of beta iron silicide Full Text
AUTORES: Lefki, K; Muret, P; Bustarret, E; Boutarek, N; Madar, R; Chevrier, J; Derrien, J; Brunel, M;
PUBLICAÇÃO: 1991, FONTE: Solid State Communications, VOLUME: 80, NÚMERO: 10
AUTORES: Lefki, K; Muret, P; Bustarret, E; Boutarek, N; Madar, R; Chevrier, J; Derrien, J; Brunel, M;
PUBLICAÇÃO: 1991, FONTE: Solid State Communications, VOLUME: 80, NÚMERO: 10
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TÃTULO: Correlation between thermal stability and dynamical properties in CuZr amorphous alloys Full Text
AUTORES: Chevrier, J;
PUBLICAÇÃO: 1988, FONTE: Solid State Communications, VOLUME: 65, NÚMERO: 12
AUTORES: Chevrier, J;
PUBLICAÇÃO: 1988, FONTE: Solid State Communications, VOLUME: 65, NÚMERO: 12
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