Raman Study of Stress Effect on Ge Nanocrystals Embedded in Al2O3

AuthID
 P-003-4Q0
6
Author(s)
Kashtiban, RJ
·
Bangert, U
·
Tipo de Documento
Article
Year published
2010
Publicado
in THIN SOLID FILMS, ISSN: 0040-6090
Volume: 518, Número: 19, Páginas: 5378-5381 (4)
Indexing
Wos®
Scopus®
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Google Scholar®
Publication Identifiers
SCOPUS: 2-s2.0-77955662199
Wos: WOS:000279885700004
Source Identifiers
ISSN: 0040-6090
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