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Characterization of Titanium Silicon Nitride Films Deposited by Pvd
AuthID
P-001-6BE
5
Author(s)
Vaz, F
·
Rebouta, L
·
da Silva, RMC
·
da Silva, MF
·
Soares, JC
Tipo de Documento
Article
Year published
1999
Publicado
in
VACUUM,
ISSN: 0042-207X
Volume: 52, Número: 1-2, Páginas: 209-214 (6)
Conference
2Nd European Conference on Hard Coatings (Etchc-2)/3Rd Iberian Vacuum Meeting (3Rd Riva),
Date:
SEP 22-24, 1997,
Location:
LISBON, PORTUGAL,
Patrocinadores:
Junta Nacl Investigacao Cient & Technol, Empresa Protuguese Aguas Livres, Spanish Vacuum Soc, Portuguese Vacuum Soc
Indexing
Wos
®
Scopus
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Crossref
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Metadata
Fontes
Publication Identifiers
DOI
:
10.1016/s0042-207x(98)00222-x
SCOPUS
: 2-s2.0-0032794384
Wos
: WOS:000077936500035
Source Identifiers
ISSN
: 0042-207X
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