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Towards a Pattern Language for Model-Based Gui Testing
AuthID
P-00G-T23
2
Author(s)
Moreira, RMLM
·
Paiva, ACR
2
Editor(es)
Veli-Pekka Eloranta; Uwe van Heesch
Tipo de Documento
Proceedings Paper
Year published
2014
Publicado
in
ACM International Conference Proceeding Series
in
EuroPLoP
Volume: 09-13-July-2014, Páginas: 26:1-26:8
Conference
19Th European Conference on Pattern Languages of Programs, Europlop 2014,
Date:
9 July 2014 through 13 July 2014
Indexing
Scopus
®
Dblp
®
/pt/publications/view/550979
Crossref
®
3
Google Scholar
®
Metadata
Fontes
Publication Identifiers
DOI
:
10.1145/2721956.2721972
DBLP
: conf/europlop/MoreiraP14
SCOPUS
: 2-s2.0-84955601006
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