Toggle navigation
Publicações
Investigadores
Instituições
0
Entrar
Autenticação Federada
(Clique na imagem)
Autenticação local
Recuperar Palavra-passe
Registar
Entrar
Publicações
Pesquisar
Estatísticas
Microstructure Evolution During Ni/Al Multilayer Reactions
AuthID
P-00H-0RQ
5
Author(s)
Simões, S
·
Viana, F
·
Ramos, AS
·
Vieira, MT
·
Vieira, MF
Tipo de Documento
Book Chapter
Year published
2008
Publicado
in
EMC 2008 14th European Microscopy Congress 1–5 September 2008, Aachen, Germany
Páginas: 487-488
Indexing
Crossref
®
Google Scholar
®
Metadata
Fontes
Publication Identifiers
DOI
:
10.1007/978-3-540-85226-1_244
Export Publication Metadata
Exportar
×
Publication Export Settings
BibTex
EndNote
APA
Export Preview
Lista
Marked
Adicionar à lista
Marked
Info
At this moment we don't have any links to full text documens.
×
Selecione a Fonte
Esta publicação tem:
2 registos no
ISI
2 registos no
SCOPUS
2 registos no
DBLP
2 registos no
Unpaywall
2 registos no
Openlibrary
2 registos no
Handle
Por favor selecione o registo que deve ser utilizado pelo Authenticus.
×
Comparar Publicações
© 2024 CRACS & Inesc TEC - All Rights Reserved
Política de Privacidade
|
Terms of Service